<meter id="pryje"><nav id="pryje"><delect id="pryje"></delect></nav></meter>
          <label id="pryje"></label>

          新聞中心

          EEPW首頁 > 測試測量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 一種新的晶圓級1/f噪聲測量方法

          一種新的晶圓級1/f噪聲測量方法

          作者:黃麗華 時(shí)間:2009-08-31 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            圖5. 漏極電流與柵極偏壓的關(guān)系

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/97638.htm

            5. 結(jié)束語

            本文介紹了一種評測MOSFET 的晶圓級測量方法和配置方案。這種測量技術(shù)可以在晶圓上自動(dòng)進(jìn)行。由于這種配置方案能夠測出低于100Hz的低頻噪聲分量,因此能夠有效提取到MOSFET的。

            參考文獻(xiàn)

            [1]K.K. Hung, P. K. Ko, C. Hu, Y. C. Cheng, IEEE Transactions On Electron Devices, 37, pp.654-664 (1990)

            [2]H. Wong, Microelectronics Reliability, 43, pp.585-599 (2003)

            [3]A. Blaum, O. Pilloud, G. Scalea, J. Victory, F. Sischka, IEEE Int. Conference on Microelectronic Test Structures, 14, pp.125–130 (2001)


          上一頁 1 2 3 4 5 下一頁

          評論


          相關(guān)推薦

          技術(shù)專區(qū)

          關(guān)閉
          看屁屁www成人影院,亚洲人妻成人图片,亚洲精品成人午夜在线,日韩在线 欧美成人 (function(){ var bp = document.createElement('script'); var curProtocol = window.location.protocol.split(':')[0]; if (curProtocol === 'https') { bp.src = 'https://zz.bdstatic.com/linksubmit/push.js'; } else { bp.src = 'http://push.zhanzhang.baidu.com/push.js'; } var s = document.getElementsByTagName("script")[0]; s.parentNode.insertBefore(bp, s); })();