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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測(cè)試

測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

增強(qiáng)UV LED的透明導(dǎo)電性新方法

ITO跟有什么關(guān)系?ITO是一種透明的電極材料，具有高的導(dǎo)電率、高的可見光透過率、高的機(jī)械硬度和良好的化學(xué)穩(wěn)定性。目前ITO膜主要是為了提高LED的出光效
關(guān)鍵字：功率測(cè)試 LED

一文了解MEMS晶圓級(jí)測(cè)試系統(tǒng)

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)屬于21 世紀(jì)前沿技術(shù)，是對(duì)MEMS加速度計(jì)、MEMS 陀螺儀及慣性導(dǎo)航系統(tǒng)的總稱。MEMS 器件特征尺寸從毫米、微米甚至到納米量級(jí)，涉及機(jī)械
關(guān)鍵字：測(cè)試測(cè)量頻率

PET背板，創(chuàng)新還是“創(chuàng)心”

背板作為晶硅的關(guān)鍵部件，對(duì)組件的安全性、使用壽命和降低功率衰減起著至關(guān)重要的作用。要達(dá)到保護(hù)電池片的目的，背板必須具備良好的機(jī)械強(qiáng)度與韌性、
關(guān)鍵字：功率測(cè)試

充電倍率對(duì)車用鋰電池衰降的影響

離子電池在使用過程中隨著充放電次數(shù)的增加，容量逐漸降低，也就是我們所說的衰降，直觀的感受就是電量越來越不夠用了。好比我們的手機(jī)，剛剛買來的時(shí)
關(guān)鍵字：電池測(cè)試電流

晶振與負(fù)載電容怎么搭配才好

晶振的老搭檔負(fù)載電容分為C1和C2兩個(gè)貼片電容，負(fù)載電容的作用就是消減其他雜波所帶來的干擾，從而提高電路的穩(wěn)定性。大家在選擇負(fù)載電容時(shí)，可以按照
關(guān)鍵字：晶振測(cè)試功率

pic16c57單片機(jī)電阻測(cè)量?jī)x的設(shè)計(jì)

低電阻測(cè)量?jī)x按其測(cè)試電流的大小可分為兩類：一類測(cè)試電流較大，主要用于接插件、開關(guān)、導(dǎo)體等產(chǎn)品的直流低電阻的測(cè)量;另一類測(cè)試電流很小(一般為1 mA
關(guān)鍵字：測(cè)試直流電壓單片機(jī)

TRL微波器件測(cè)量去嵌入校準(zhǔn)原理詳解

前言：該教程是本人2012年跟安捷倫工程師討論微波器件去嵌入技術(shù)時(shí)準(zhǔn)備的，當(dāng)時(shí)討論主題如何解決去嵌入算法頻率限制問題(已申請(qǐng)專利)，現(xiàn)在摘取其中TR
關(guān)鍵字：測(cè)量測(cè)試微波器

高功率皮秒激光器關(guān)鍵技術(shù)簡(jiǎn)介

高功率皮秒以其高峰值功率、窄脈沖寬度(10-12s),在材料精細(xì)微加工、LED芯片劃片、太陽能光伏，科學(xué)研究等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。相對(duì)于傳統(tǒng)納秒(10-9s
關(guān)鍵字：測(cè)試功率放大器

動(dòng)力電池安全性技術(shù)解析

在動(dòng)力電池安全性標(biāo)準(zhǔn)方面，目前模塊、系統(tǒng)對(duì)熱失控的防熱誘因測(cè)試方面，以及單體、模組和系統(tǒng)的生命周期安全性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)缺失，亟待研究與制定?，F(xiàn)行國(guó)
關(guān)鍵字：測(cè)試電池

示波器模板測(cè)試功能解讀

在電子產(chǎn)品的可靠性驗(yàn)證測(cè)試中，模板測(cè)試非常實(shí)用，長(zhǎng)時(shí)間監(jiān)控波形的故障率，并根據(jù)故障波形定位原因是保證品控質(zhì)量的重要手段，本文將對(duì)的模板測(cè)試功
關(guān)鍵字：測(cè)試示波器

顯微高光譜系統(tǒng)測(cè)試LED光源分析報(bào)告

顯微高光譜系統(tǒng)是高光譜相機(jī)、顯微鏡、計(jì)算機(jī)等結(jié)合的新型應(yīng)用方式，借助顯微鏡結(jié)構(gòu)在不同放大倍率下把待測(cè)試樣品的微觀尺度進(jìn)一步的提升的特點(diǎn)，能夠
關(guān)鍵字： LED 測(cè)試計(jì)算機(jī)

輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)

輻射抗擾度測(cè)試系統(tǒng)適用于電氣、電子設(shè)備的電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)，它規(guī)定了試驗(yàn)等級(jí)何必要的實(shí)驗(yàn)程序。它是建立電氣電子設(shè)備在受到射頻電磁場(chǎng)輻射干擾
關(guān)鍵字：輻射抗擾度測(cè)試

12KV雷擊浪涌測(cè)試系統(tǒng)

MIG1206-1P雷擊浪涌發(fā)生器瑞士原裝進(jìn)口，雷擊電壓最高到12KV，產(chǎn)品的性能符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-5和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.5的標(biāo)準(zhǔn)要求。
關(guān)鍵字： MIG1206-1P 雷擊浪涌測(cè)試

簡(jiǎn)析芯片反向設(shè)計(jì)流程

什么是芯片反向設(shè)計(jì)?反向設(shè)計(jì)其實(shí)就是芯片反向設(shè)計(jì)?，它是通過對(duì)芯片內(nèi)部電路的提取與分析、整理，實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片技術(shù)原理、設(shè)計(jì)思路、工藝制造、結(jié)構(gòu)機(jī)制
關(guān)鍵字：測(cè)試單片機(jī) 通信

簡(jiǎn)析電動(dòng)車動(dòng)態(tài)充電技術(shù)

充電對(duì)于電動(dòng)汽車來說像是Bug一樣的存在，如果有一天，電動(dòng)汽車擺脫充電樁的束縛，不用到處找充電樁，充電比加油還方便那該有多好?？吹竭@里大家應(yīng)該都
關(guān)鍵字：測(cè)試功率交流

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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]

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測(cè)試電路

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測(cè)試視頻

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測(cè)試專欄文章

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