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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試

測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

開(kāi)源深度學(xué)習(xí)框架對(duì)比

本節(jié)對(duì)5個(gè)開(kāi)源深度學(xué)習(xí)框架進(jìn)行對(duì)比研究，主要側(cè)重于3個(gè)維度研究：硬件支持率、速度和準(zhǔn)確率、社區(qū)活躍性。他們分別是：TensorFlow、Caffe、Keras、To
關(guān)鍵字：計(jì)算機(jī) 測(cè)試

基于J750EX測(cè)試系統(tǒng)的SRAM VDSR32M32測(cè)試技術(shù)研究

作者：王鑫，王烈洋，占連樣，陳像，張水蘋(píng)，湯凡，黃小琥，李光摘要VDSR32M32是珠海歐比特公司自主研發(fā)的一種高速、大容量的靜態(tài)隨機(jī)器(SRAM)用其對(duì)大
關(guān)鍵字： SRAM 測(cè)試

斷路器主回路電阻超標(biāo)問(wèn)題分析及解決對(duì)策

斷路器主回路電阻超標(biāo)是如今電力系統(tǒng)的一大難題，斷路器作為電力系統(tǒng)的核心設(shè)備，在其中出現(xiàn)某一差錯(cuò)，都有可能影響電力系統(tǒng)的運(yùn)行，因此，我們要引起
關(guān)鍵字：電阻測(cè)試

時(shí)鐘是怎么恢復(fù)的？

對(duì)于高速的串行總線來(lái)說(shuō)，一般情況下都是通過(guò)數(shù)據(jù)編碼把時(shí)鐘信息嵌入到傳輸?shù)臄?shù)據(jù)流里，然后在接收端通過(guò)時(shí)鐘恢復(fù)把時(shí)鐘信息提取出來(lái)，并用這個(gè)恢復(fù)出
關(guān)鍵字：測(cè)試濾波器

ADC芯片參數(shù)測(cè)試技術(shù)解析

隨著數(shù)字技術(shù)的不斷發(fā)展和計(jì)算機(jī)在信號(hào)處理、控制等領(lǐng)域中的廣泛應(yīng)用，過(guò)去由模擬電路實(shí)現(xiàn)的工作，今天越來(lái)越多地由數(shù)字電路或計(jì)算機(jī)來(lái)處理。作為模擬
關(guān)鍵字：測(cè)試直流

淺談集成穩(wěn)壓器調(diào)整率參數(shù)的測(cè)量原理和方法

集成穩(wěn)壓器又稱集成穩(wěn)壓電源，電路形式大多采用串聯(lián)穩(wěn)壓方式。集成穩(wěn)壓器與分立元件穩(wěn)壓器相比具有外接元件少、使用方便、性能穩(wěn)定、價(jià)格低廉等優(yōu)點(diǎn)，
關(guān)鍵字：測(cè)試驅(qū)動(dòng)器

詳解半導(dǎo)體分立器件脈沖測(cè)試的必要性及相關(guān)要求

本文主要討論了半導(dǎo)體分立器件參數(shù)的脈沖測(cè)試技術(shù)，在這里我們能了解脈沖測(cè)試的必要性是什么，它的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)又是什么，實(shí)現(xiàn)脈沖測(cè)試的方法又是什么。一
關(guān)鍵字：測(cè)試三極管

結(jié)合數(shù)字方法對(duì)ADC信噪的測(cè)試

目前的實(shí)時(shí)信號(hào)處理機(jī)要求ADC盡量靠近視頻?中頻甚至射頻，以獲取盡可能多的目標(biāo)信息?因而，ADC的性能好壞直接影響整個(gè)系統(tǒng)指標(biāo)的高低和性能好壞，從而
關(guān)鍵字：測(cè)試轉(zhuǎn)換器

黑盒測(cè)試的7種測(cè)試方法

黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試，它是通過(guò)測(cè)試來(lái)檢測(cè)每個(gè)功能是否都能正常使用。在測(cè)試中，把程序看作一個(gè)不能打開(kāi)的黑盒子，在完全不考慮程序內(nèi)部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部特
關(guān)鍵字：控制測(cè)試

深度解析SOC 中ADC 測(cè)試技術(shù)

ADC靜態(tài)測(cè)試的方法已研究多年，國(guó)際上已有標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法，但靜態(tài)測(cè)試不能反映ADC的動(dòng)態(tài)特性，因此有必要研究動(dòng)態(tài)測(cè)試方法?動(dòng)態(tài)特性包括很多，如信噪比
關(guān)鍵字：測(cè)試傳感器

PCB布線設(shè)計(jì)完整的方法

PCB布線設(shè)計(jì)中，對(duì)于布通率的的提高有一套完整的方法，在此，我們?yōu)榇蠹姨峁┨岣逷CB設(shè)計(jì)布通率以及設(shè)計(jì)效率的有效技巧，不僅能為客戶節(jié)省項(xiàng)目開(kāi)發(fā)周期
關(guān)鍵字：測(cè)試

神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)會(huì)成為機(jī)器視覺(jué)的未來(lái)趨勢(shì)嗎?

什么是神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)?為什么它會(huì)成為工業(yè)圖像處理系統(tǒng)的熱點(diǎn)話題?因?yàn)樯窠?jīng)網(wǎng)絡(luò)不僅使開(kāi)發(fā)人員從復(fù)雜的差異化標(biāo)準(zhǔn)界定程序中解脫出來(lái)，還能夠自主識(shí)別并學(xué)習(xí)
關(guān)鍵字：測(cè)試控制

5G技術(shù)及測(cè)試測(cè)量的挑戰(zhàn)

5G發(fā)展日新月異，目前已具備可實(shí)現(xiàn)的目標(biāo)和可實(shí)施的標(biāo)準(zhǔn)，通信行業(yè)將要開(kāi)始5G部署工作。與此同時(shí)，業(yè)內(nèi)會(huì)面臨許多技術(shù)及測(cè)試測(cè)量方面的挑戰(zhàn)。為此，本媒體邀請(qǐng)部分5G從業(yè)廠商，探討5G最新技術(shù)進(jìn)展及解決方案。
關(guān)鍵字： 5G 基站 MIMO Sub-6GHz 毫米波測(cè)試 201806

NI針對(duì)5G新要求的測(cè)試解決方案

隨著2017年12月 3GPP第一版NR部分sub-6GHz部分草案落地，以及接下來(lái)Phase2的部分草案逐步落地，半導(dǎo)體廠商及終端廠商開(kāi)始基于相關(guān)草案快速進(jìn)行商用化。在快速商用化過(guò)程中必然會(huì)在軟件及測(cè)試方面存在諸多難題，如何解析當(dāng)下局面，在軟件及測(cè)試上實(shí)現(xiàn)快速通關(guān)成為5G發(fā)展的熱點(diǎn)問(wèn)題之一。
關(guān)鍵字： 5G，測(cè)試，NI

百佳泰推出全方位物聯(lián)實(shí)驗(yàn)場(chǎng)域

物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代來(lái)臨，智能生活將成為人們未來(lái)的生活型態(tài)。為順應(yīng)這樣的新時(shí)代趨勢(shì)來(lái)促進(jìn)物聯(lián)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，百佳泰的物聯(lián)實(shí)驗(yàn)場(chǎng)域「Allion IoT Innovation Center」已在今年初正式啟用。
關(guān)鍵字：百佳泰，物聯(lián)網(wǎng)，測(cè)試

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測(cè)試介紹

　　中文名稱：　　測(cè)試　　英文名稱：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]

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測(cè)試電路

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測(cè)試視頻

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