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測(cè)量
測(cè)量 文章 進(jìn)入測(cè)量技術(shù)社區(qū)
利用測(cè)時(shí)儀測(cè)量交流信號(hào)的直流偏移
- 在如今的半導(dǎo)體領(lǐng)域，要確定集成電路器件的功能性是否滿足要求，往往需要對(duì)其進(jìn)行多種電測(cè)試。其中一項(xiàng)就是測(cè)量器件的時(shí)序，這時(shí)必須用到測(cè)時(shí)儀(TMU)。什么是測(cè)時(shí)儀？測(cè)時(shí)儀是一種半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)，負(fù)責(zé)測(cè)量
- 關(guān)鍵字： 測(cè)時(shí)儀 測(cè)量 交流信號(hào) 直流偏移
NI發(fā)布全新SC Express PXI傳感器測(cè)量RTD模塊
- 電阻溫度探測(cè)器(RTD)模塊進(jìn)一步擴(kuò)展了測(cè)量性能，能夠提供更高的溫度精度。 工程師可使用NI SC Express 產(chǎn)品家族中的NI PXIe-4357 RTD模塊，PXI以及LabVIEW實(shí)時(shí)模塊來(lái)創(chuàng)建穩(wěn)定的傳感器測(cè)量系統(tǒng)，其通道數(shù)可從十?dāng)U展至數(shù)千 SC Express將數(shù)據(jù)采集與信號(hào)調(diào)理集成在一個(gè)PXI模塊中，從而實(shí)現(xiàn)高性能、穩(wěn)定的傳感器測(cè)量，以及速度和精度的優(yōu)化
- 關(guān)鍵字： NI 測(cè)量 SC Express
測(cè)量磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器柔性電路的互連阻抗測(cè)試
- HDD中需精心設(shè)計(jì)的鏈路是位于前置放大器和讀/寫(xiě)磁頭組件之間的互連。該互連是確保HDD以多倍Gb/s的速率讀寫(xiě)大量數(shù)據(jù)關(guān)鍵組件，但是，諸如交調(diào)失真、過(guò)沖和下沖等影響常會(huì)降低互連的性能，本文簡(jiǎn)要介紹如何利用時(shí)域反射
- 關(guān)鍵字： 測(cè)量 磁盤(pán) 測(cè)試 驅(qū)動(dòng)器
測(cè)量介紹
測(cè)量的概念
所謂測(cè)量，是指用實(shí)驗(yàn)的方法，將被測(cè)量（未知量）與已知的標(biāo)準(zhǔn)量進(jìn)行比較，以得到被測(cè)量大小的過(guò)程；是對(duì)被測(cè)量定量認(rèn)識(shí)的過(guò)程。
測(cè)量的定義
1.早期的定義：研究地球的形狀和大小，確定地面點(diǎn)的坐標(biāo)的學(xué)科。
2.當(dāng)前的定義：研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學(xué)科。
測(cè)量學(xué)的內(nèi)容包括測(cè)定和測(cè)設(shè)兩個(gè)部分。測(cè)定是指使用測(cè)量?jī)x器和工具，通過(guò)測(cè) [ 查看詳細(xì) ]
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