測(cè)量 文章 進(jìn)入測(cè)量技術(shù)社區(qū)
數(shù)據(jù)采集測(cè)量結(jié)果改善的常用校正方法
- 改善測(cè)量結(jié)果需要進(jìn)行配置、校準(zhǔn)以及優(yōu)秀的軟件開發(fā)技術(shù)。本文旨在使您了解優(yōu)化測(cè)量結(jié)果的軟、硬件技巧，內(nèi)容包括：選擇并配置數(shù)據(jù)采集設(shè)備、補(bǔ)償測(cè)量誤差以及采用優(yōu)秀的軟件技術(shù)。當(dāng)您將電子信號(hào)連接到數(shù)據(jù)采集設(shè)備
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為您的測(cè)量選擇合適的數(shù)據(jù)采集硬件
- 概覽 面對(duì)市場(chǎng)上眾多的數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備，如何為您的應(yīng)用選擇最合適的一款?本白皮書概述了在為測(cè)量應(yīng)用 ...
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藍(lán)菲光學(xué)榮獲NVLAP ISO 17205校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證
- 日前, 藍(lán)菲光學(xué)已榮獲NVLAP ISO 17205校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證。美國(guó)國(guó)家實(shí)驗(yàn)室自愿認(rèn)可程序(NVLAP)由美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院(NIST)進(jìn)行管理, NIST在成功對(duì)藍(lán)菲光學(xué)校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的光輻射測(cè)量進(jìn)行嚴(yán)格的現(xiàn)場(chǎng)評(píng)估和技術(shù)評(píng)估之后，將美國(guó)國(guó)家實(shí)驗(yàn)室自愿認(rèn)可程序(NVLAP Lab 200951-0)授予給藍(lán)菲光學(xué)。
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測(cè)量介紹
測(cè)量的概念
所謂測(cè)量，是指用實(shí)驗(yàn)的方法，將被測(cè)量（未知量）與已知的標(biāo)準(zhǔn)量進(jìn)行比較，以得到被測(cè)量大小的過程；是對(duì)被測(cè)量定量認(rèn)識(shí)的過程。
測(cè)量的定義
1.早期的定義：研究地球的形狀和大小，確定地面點(diǎn)的坐標(biāo)的學(xué)科。
2.當(dāng)前的定義：研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學(xué)科。
測(cè)量學(xué)的內(nèi)容包括測(cè)定和測(cè)設(shè)兩個(gè)部分。測(cè)定是指使用測(cè)量?jī)x器和工具，通過測(cè) [ 查看詳細(xì) ]
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