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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 調(diào)試

          邏輯分析儀在嵌入式開發(fā)調(diào)試中的應(yīng)用

          • 邏輯分析儀在嵌入式開發(fā)調(diào)試中的應(yīng)用,在嵌入式開發(fā)調(diào)試中,開發(fā)人員的調(diào)試手段包括斷點、觸發(fā)和跟蹤三種。隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展,新一代的嵌入式處理器集成度和工作頻率越來越高,芯片封裝形式也越來越趨向表貼化。在線調(diào)試器(ICD)與邏輯分析儀的組合開發(fā)
          • 關(guān)鍵字: 調(diào)試  應(yīng)用  開發(fā)  嵌入式  分析儀  邏輯  

          解析基于SoC的系統(tǒng)設(shè)計與調(diào)試

          •  調(diào)試復(fù)雜電子系統(tǒng)從來就不是一項簡單的工作,但至少是可以實現(xiàn)的,您要找到問題的所在。采用您最相信的“示波器”,通過模擬電路到數(shù)字轉(zhuǎn)換,您可以追溯到問題的源頭。然后,編寫測試小程序,檢查驅(qū)動和
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          基于混合信號示波器的混合信號電路設(shè)計及調(diào)試

          • 隨著電子產(chǎn)品的功能變得日益復(fù)雜,混合信號越來越多地出現(xiàn)在工程師設(shè)計的產(chǎn)品中。雖然混合信號可以給設(shè)計帶來靈活性,但由于模擬和數(shù)字信號有著不同的頻率和幅度特性,因而工程師調(diào)試和測試產(chǎn)品的難度也增大了。本文
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          中低壓變頻器的安裝與調(diào)試分析

          • 1 引言隨著變頻器在工業(yè)生產(chǎn)中的日益普及,變頻器作為一種調(diào)速節(jié)能的產(chǎn)品,已日益受到工礦企業(yè)的重視,成為工業(yè)生產(chǎn)及生活中不可或缺的工具。在石油、化工、建材、電力、礦山、塑料、冶金、水利等關(guān)系國計民生的各行
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          使用MDO4000進行RF模塊功能驗證及調(diào)試

          • 本次測試結(jié)果顯示在射頻信號中存在干擾。圖2顯示了FPGA驅(qū)動的射頻信號的的波形,圖3顯示了使用單片機驅(qū)動的射頻信號的波形。兩者的信號強度一致但是接收距離有明顯的差異,干擾導(dǎo)致了噪聲容限的降低影響接收靈敏度,電源對系統(tǒng)的干擾確確實實的存在。
          • 關(guān)鍵字: 功能  驗證  調(diào)試  模塊  RF  MDO4000  進行  使用  

          LED驅(qū)動調(diào)試簡介

          • 1、芯片發(fā)熱這主要針對內(nèi)置電源調(diào)制器的高壓驅(qū)動芯片.假如芯片消耗的電流為2mA,300V的電壓加在芯片上面,芯片的功耗為0.6W,當然會引起芯片的發(fā)熱.驅(qū)動芯片的最大電流來自于驅(qū)動功率mos管的消耗,簡單的計算公式為I=cvf
          • 關(guān)鍵字: 簡介  調(diào)試  驅(qū)動  LED  

          LED驅(qū)動芯片調(diào)試分析

          • 1、芯片發(fā)熱  這主要針對內(nèi)置電源調(diào)制器的高壓驅(qū)動芯片.假如芯片消耗的電流為2mA,300V的電壓加在芯片上面,芯片的功耗為0.6W,當然會引起芯片的發(fā)熱.驅(qū)動芯片的最大電流來自于驅(qū)動功率mos管的消耗,簡單的計算公式為I
          • 關(guān)鍵字: 分析  調(diào)試  芯片  驅(qū)動  LED  

          在Proteus中進行ICCAVR調(diào)試的方法

          • 今天給大家介紹一種即能像AVR Studio 一樣進行代碼級調(diào)試,又可以實時看到MCU 狀態(tài)的軟件,Proteus。 大家都知道ICC-AVR 不能進行代碼調(diào)試,很多人都選擇了AVRStudio,但是AVR Studio 不直觀,特別是在做液晶顯示代
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          實現(xiàn)KeilC與Proteus連接調(diào)試的方法簡介

          • 對于proteus 6.9以后的版本,在安裝盤里或LABCENTER公司有vdmagdi插件,安裝該插件即可實現(xiàn)與KEIL的聯(lián)調(diào)?! ∈紫劝惭bvdmagdi軟件,然后再進行以下設(shè)置:  Keil設(shè)置  在Keil軟件上單擊“Project菜單/OpTIons
          • 關(guān)鍵字: Proteus  KeilC  調(diào)試  方法    

          ulink-Jlink下在ram和flash中調(diào)試STM32的方法

          • ulink-Jlink下在ram和flash中調(diào)試STM32的方法,Keil MDK3.20 在ULINK下調(diào)試stm32方法1. 程序在RAM中運行要點:(1)程序的下載地址改到RAM空間中(2)程序的debug之前要設(shè)定SP,PC指針到Ram空間新建工程,選擇STM32 的具體型號,我買的萬利的開發(fā)板,選擇stm32f103Vb。
          • 關(guān)鍵字: STM32  方法  調(diào)試  flash  下在  ram  ulink-Jlink  

          顯微鏡用CCD調(diào)試步驟

          • CCD是Charged Coupled Device((電荷耦合器件)的縮寫,它是一種半導(dǎo)體成像器件,因而具有靈敏度高、抗強光、畸變小、體積小、壽命長、抗震動等優(yōu)點。測試CCD主要測試清晰度和色彩還原性、照度、逆光補償,其次是測其
          • 關(guān)鍵字: 步驟  調(diào)試  CCD  顯微鏡  

          電源設(shè)計調(diào)試過程中的異?,F(xiàn)象介紹

          • 調(diào)試過程中所看到的一些異常現(xiàn)象,以及后來的解決辦法。其實很多工程師認為設(shè)計電源是非常重經(jīng)驗的一門技術(shù),要見多識廣。這種經(jīng)驗,不但體現(xiàn)在設(shè)計中,更體現(xiàn)在調(diào)試的過程。當你一看到波形,就能把問題定位,那就是
          • 關(guān)鍵字: 現(xiàn)象  介紹  異常  過程  設(shè)計  調(diào)試  電源  

          基于嵌入式系統(tǒng)調(diào)試診斷方法

          • 基于嵌入式系統(tǒng)調(diào)試診斷方法,本文介紹了嵌入式系統(tǒng)開發(fā)過程實際上就是一個調(diào)試診斷的過程,而且調(diào)試診斷將一直伴隨著一個產(chǎn)品的終身,即使是最成熟的產(chǎn)品也偶爾會出現(xiàn)這樣或那樣的問題,這都需要開發(fā)人員去診斷、排查。嵌入式系統(tǒng)的調(diào)試包括硬件
          • 關(guān)鍵字: 診斷方法  調(diào)試  系統(tǒng)  嵌入式  基于  

          漫談變頻器現(xiàn)場調(diào)試

          • 21ic電源:1 引言隨著科技不斷進步,變頻器不斷更新、換代、升級、演變,并且其應(yīng)用亦日益廣泛。尤其是變頻器的優(yōu)良調(diào)速、節(jié)能、軟啟動等性能,倍受廣大用戶青睞。作為變頻器的使用者,掌握和熟悉變頻器的正確現(xiàn)場調(diào)
          • 關(guān)鍵字: 調(diào)試  現(xiàn)場  變頻器  漫談  

          單片機Keil軟件仿真與調(diào)試技巧

          • 一、引言單片機軟件開發(fā)過程中,軟件調(diào)試遇到的各種問題常令初學(xué)者感到不知所措。實際上。各種仿真開發(fā)軟件的程序調(diào)試基本方法和技巧大同小異,掌握正確的程序調(diào)試基本技巧。對于排查這些程序錯誤問題可以起到舉一反
          • 關(guān)鍵字: 調(diào)試  技巧  仿真  軟件  Keil  單片機  
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          調(diào)試介紹

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