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FPGA平臺(tái)上的遠(yuǎn)程靜態(tài)應(yīng)變測量系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 摘要：設(shè)計(jì)了一種基于FPGA和ARM架構(gòu)的多通道遠(yuǎn)程靜態(tài)應(yīng)變測量系統(tǒng)。采用FPGA控制多通道模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊實(shí)現(xiàn)多路應(yīng)變信號(hào)的采集和數(shù)據(jù)處理，利用ARM和網(wǎng)絡(luò)模塊實(shí)現(xiàn)FPGA的控制及其與遠(yuǎn)程終端之間的以太網(wǎng)通信。系統(tǒng)可通過遠(yuǎn)程終端控制現(xiàn)場測量節(jié)點(diǎn)的參數(shù)設(shè)置和32路應(yīng)變信號(hào)的采集、處理和存儲(chǔ)。
- 關(guān)鍵字： FPGA 測量系統(tǒng) 以太網(wǎng) 201210
Altera在28-nm FPGA上測試復(fù)數(shù)高性能浮點(diǎn)數(shù)字信號(hào)處理設(shè)計(jì)
- Altera公司 (NASDAQ: ALTR)日前宣布，在業(yè)界率先在28 nm FPGA器件上成功測試了復(fù)數(shù)高性能浮點(diǎn)數(shù)字信號(hào)處理(DSP)設(shè)計(jì)。獨(dú)立技術(shù)分析公司Berkeley設(shè)計(jì)技術(shù)有限公司(BDTI)驗(yàn)證了能夠在Altera Stratix? V和Arria? V 28 nm FPGA開發(fā)套件上簡單方便的高效實(shí)現(xiàn)Altera浮點(diǎn)DSP設(shè)計(jì)流程，同時(shí)驗(yàn)證了要求較高的浮點(diǎn)DSP應(yīng)用的性能。
- 關(guān)鍵字： Altera FPGA DSP
基于FPGA的高速卷積硬件設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn)
- 基于FPGA的高速卷積硬件設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn),在數(shù)字信號(hào)處理領(lǐng)域，離散時(shí)間系統(tǒng)的輸出響應(yīng)，可以直接由輸入信號(hào)與系統(tǒng)單位沖激響應(yīng)的離散卷積得到。離散卷積在電子通信領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，是工程應(yīng)用的基礎(chǔ)。如果直接在時(shí)域進(jìn)行卷積，卷積過程中所必須的大量乘法和加
- 關(guān)鍵字： 設(shè)計(jì) 實(shí)現(xiàn) 硬件 高速 FPGA 基于
針對(duì)FPGA內(nèi)缺陷成團(tuán)的電路可靠性設(shè)計(jì)研究
- 引 言微小衛(wèi)星促進(jìn)了專用集成電路(ASIC—ApplicatiON Spceific Integrated Circuit)在航天領(lǐng)域的應(yīng)用。現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA —Field Programable Gate Array)作為ASIC的特殊實(shí)現(xiàn)形式，是中國航天目前集成
- 關(guān)鍵字： FPGA 缺陷 電路 可靠性設(shè)計(jì)
基于FPGA和DSP技術(shù)某型飛機(jī)總線系統(tǒng)通訊軟件的設(shè)計(jì)
- 在分析某型飛機(jī)MILSTD1553B數(shù)據(jù)總線系統(tǒng)構(gòu)成的基礎(chǔ)上，結(jié)合其通信協(xié)議與其消息傳輸格式，建立了某型飛機(jī)總線系統(tǒng)通訊層次結(jié)構(gòu)，并運(yùn)用FPGA和DSP技術(shù)設(shè)計(jì)了此型飛機(jī)總線系統(tǒng)通訊軟件。目前，隨著工藝和技術(shù)的進(jìn)步，集
- 關(guān)鍵字： FPGA DSP 飛機(jī) 總線系統(tǒng)
LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件對(duì)數(shù)字開發(fā)的影響
- 長期以來的預(yù)測趨勢揭示了整個(gè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程中的設(shè)計(jì)和測試趨于統(tǒng)一，這兩個(gè)先前獨(dú)立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢在于縮短了投入市場的時(shí)間并獲得更好的整體質(zhì)量，而這些優(yōu)勢都?xì)w功于在創(chuàng)建設(shè)計(jì)的同時(shí)集成了測試定義和實(shí)現(xiàn)。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程中，從仿真到實(shí)現(xiàn)以及最終系統(tǒng)部署，都可以對(duì)這些早期測試平臺(tái)進(jìn)行重用。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW FPGA
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