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基于AD9957的USB側(cè)音測(cè)距信號(hào)發(fā)生器設(shè)計(jì)

　　0 引言　　隨著我國(guó)航天技術(shù)的不斷進(jìn)步，深空測(cè)距技術(shù)受到越來(lái)越多的關(guān)注。在深空測(cè)距系統(tǒng)中，中頻信號(hào)發(fā)生器對(duì)系統(tǒng)性能有著重要的意義。在USB(統(tǒng)一S頻段)系統(tǒng)中，原有的模擬電路實(shí)現(xiàn)的發(fā)射模塊存在性能不完善、輸入動(dòng)態(tài)范圍小、可控性能差、不能適應(yīng)中心頻率大范圍變化、體積大等問(wèn)題，為了解決上述問(wèn)題，可在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化通用數(shù)字調(diào)制信號(hào)發(fā)生器的平臺(tái)上，通過(guò)外圍的控制電路，實(shí)現(xiàn)對(duì)載波中心頻率、輸出功率、調(diào)相指數(shù)、測(cè)距音通／斷控制等參數(shù)的改變。　　以軟件無(wú)線電思想為核心，基于PLD(可編程邏輯器件)的通用調(diào)制信號(hào)
關(guān)鍵字：測(cè)距 PLD USB D／A FPGA

基于FPGA的自然對(duì)數(shù)變換器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

本文利用CORD IC算法在FPGA上實(shí)現(xiàn)了自然對(duì)數(shù)運(yùn)算器。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該對(duì)數(shù)運(yùn)算器的輸出誤差為10-4數(shù)量級(jí)，最高頻率可達(dá)到80MHz。該運(yùn)算器適用于高速大數(shù)據(jù)量的數(shù)據(jù)處理。
關(guān)鍵字： FPGA 對(duì)數(shù)運(yùn)算 CORD IC算法對(duì)數(shù)變換器 200808

IC業(yè)在拐點(diǎn)生存

分析了IC業(yè)的眾多特點(diǎn)，例如從90nm向65nm、45nm、32nm、22nm等拐點(diǎn)演進(jìn)的困難，以及ESL、DFM拐點(diǎn)，制造是設(shè)計(jì)的拐點(diǎn)，F(xiàn)PGA與ASIC之間的拐點(diǎn)等熱門(mén)問(wèn)題。
關(guān)鍵字： EDA 65nm 45nm 22nm 光刻處理器 FPGA ASIC 200808

基于FPGA和AD1836的I2S接口設(shè)計(jì)

本文以FPGA為控制單元，完成了AD1836中D/A部分的I2S接口設(shè)計(jì)，它在數(shù)字音頻系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中有一定的參考和實(shí)用價(jià)值。該設(shè)計(jì)已經(jīng)成功運(yùn)用在某話路特性綜合測(cè)試系統(tǒng)中，性能良好。
關(guān)鍵字： FPGA 1836 I2S AD

Altera FPGA開(kāi)發(fā)板為XLoom提供誤碼率測(cè)試環(huán)境

　　進(jìn)一步展示其FPGA靈活性和通用性，Altera公司宣布，XLoom通信公司采用Stratix® II GX FPGA信號(hào)完整性開(kāi)發(fā)套件來(lái)提供獨(dú)特的誤碼率(BER)測(cè)試環(huán)境。和傳統(tǒng)的BER測(cè)試設(shè)備相比，Altera基于FPGA的開(kāi)發(fā)板支持XLoom以更高的性價(jià)比來(lái)測(cè)試芯片級(jí)光電互聯(lián)模塊。這一獨(dú)特的測(cè)試環(huán)境更貼近實(shí)際的客戶狀態(tài)，同時(shí)進(jìn)一步節(jié)省了空間，降低了功耗。　　傳統(tǒng)的BER測(cè)試儀成本高達(dá)100,000美元，而Stratix II GX FPGA信號(hào)完整性開(kāi)發(fā)套件在這方面的成本節(jié)省了90％
關(guān)鍵字： Altera FPGA 開(kāi)發(fā)套件 XLoom

基于FPGA的空間存儲(chǔ)器的糾錯(cuò)系統(tǒng)

　　1、引言　　阿爾法磁譜儀(Alpha Magnetic Spectrometer，AMS)實(shí)驗(yàn)室是丁肇中博士領(lǐng)導(dǎo)的由美、俄、德、法、中等16個(gè)國(guó)家和地區(qū)共300多名科學(xué)家參加的大型國(guó)際合作項(xiàng)目。它是國(guó)際空間站上唯一大型物理實(shí)驗(yàn)，是人類(lèi)第一次在太空中精密地測(cè)量高能量帶電原子核粒子的實(shí)驗(yàn)。其目的是為尋找反物質(zhì)所組成的宇宙和暗物質(zhì)的來(lái)源以及測(cè)量宇宙線的來(lái)源。　　但是對(duì)于AMS實(shí)驗(yàn)的空間電子系統(tǒng)，同樣會(huì)受到高能粒子的襲擊，導(dǎo)致存儲(chǔ)器的內(nèi)容發(fā)生變化，改寫(xiě)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的邏輯狀態(tài)，導(dǎo)致存儲(chǔ)單元在邏輯&ls
關(guān)鍵字： FPGA 存儲(chǔ)器 AMS 編碼譯碼

在低成本測(cè)試夾具上實(shí)現(xiàn)對(duì)表面貼裝射頻元器件的精確去嵌入

　　簡(jiǎn)介　　射頻工程師通常使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）測(cè)量射頻元器件的S參數(shù)，以便對(duì)其特性進(jìn)行表征并進(jìn)行后續(xù)設(shè)計(jì)。他們?cè)跍y(cè)量過(guò)程中遇到的一個(gè)問(wèn)題是，這些元器件往往是表貼封裝的，不能直接與VNA連接。如圖1所示，工程師通常會(huì)制作簡(jiǎn)單的PCB測(cè)試夾具來(lái)對(duì)被測(cè)件（DUT）進(jìn)行表面貼裝，建立被測(cè)件與VNA的連接。但是，這樣的測(cè)試夾具本身會(huì)給S參數(shù)測(cè)量帶來(lái)寄生效應(yīng)，必須通過(guò)一個(gè)稱(chēng)為去嵌入的過(guò)程來(lái)去除這種效應(yīng)。圖1 PCB測(cè)試夾具對(duì)被測(cè)件（DUT）進(jìn)行表面貼裝　　本文描述了一個(gè)實(shí)用的去嵌入過(guò)程，它不需
關(guān)鍵字：射頻 PCB 夾具去嵌入

Actel推出Libero集成開(kāi)發(fā)環(huán)境 8.4

　　Actel公司宣布其Libero® 集成開(kāi)發(fā)環(huán)境（IDE）增添全新的功耗優(yōu)化和增強(qiáng)的設(shè)計(jì)創(chuàng)建功能。全新的Libero IDE 8.4針對(duì)基于 Flash的IGLOO®、IGLOO PLUS和 ProASIC®3L現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列（FPGA），提供由1.14V至 1.575V的FPGA內(nèi)核工作電壓范圍，為設(shè)計(jì)人員提供額外的內(nèi)核電壓選擇，以實(shí)現(xiàn)更低的功耗。新版本Libero IDE改進(jìn)了SmartPower功耗分析工具，便于比較同一設(shè)計(jì)的多種設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)和器件不同工作條件下的狀況
關(guān)鍵字： Actel IDE Libero FPGA 集成開(kāi)發(fā)環(huán)境

Altera在40nm：抖動(dòng)、信號(hào)完整性、功耗和工藝達(dá)到最佳的收發(fā)器

　　1. 引言　　在摩爾定律的推動(dòng)下，半導(dǎo)體行業(yè)技術(shù)發(fā)展非常迅速，集成電路晶體管數(shù)量每?jī)赡攴?，?duì)器件或者系統(tǒng)之間的通信鏈路數(shù)據(jù)速率要求越來(lái)越高。而工藝節(jié)點(diǎn)的減小又促進(jìn)了摩爾定律。減小體積可以在單位邏輯中容納更多的功能，提高工作速率、邏輯密度和集成度，同時(shí)降低了。通常采用高級(jí)設(shè)計(jì)方法和工藝技術(shù)來(lái)提高數(shù)據(jù)速率，支持固網(wǎng)和無(wú)線通信、計(jì)算機(jī)、存儲(chǔ)、軍事應(yīng)用以及廣播電子系統(tǒng)發(fā)送接收大量數(shù)據(jù)，以滿足不斷增長(zhǎng)的數(shù)據(jù)傳輸和帶寬要求。　　微處理器和FPGA等前沿產(chǎn)品采用了65-nm工藝技術(shù)。這些產(chǎn)品的后續(xù)型號(hào)將采
關(guān)鍵字：半導(dǎo)體 FPGA 微處理器 I/O

ARM7與FPGA在工業(yè)控制的結(jié)合

　　工業(yè)控制中往往需要完成多通道故障檢測(cè)及多通道命令控制（這種多任務(wù)設(shè)置非常普遍），單獨(dú)的CPU芯片由于其外部控制接口數(shù)量有限而難以直接完成多路檢控任務(wù)，故利用ARM芯片與FPGA相結(jié)合來(lái)擴(kuò)展檢控通道是一個(gè)非常好的選擇。這里介紹用Atmel公司ARM7處理器（AT91FR40162）和ALTERA公司的低成本FPGA芯片（cyclone2）結(jié)合使用完成多通道檢控任務(wù)的一種實(shí)現(xiàn)方法。　　各部分功能簡(jiǎn)介　　圖1為此系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)連接框圖。如圖所示，ARM芯片與FPGA芯片之間通過(guò)數(shù)據(jù)總線、地址總線及讀寫(xiě)控
關(guān)鍵字：工業(yè)控制 ARM FPGA 處理器

基于ARM的嵌入式系統(tǒng)中從串配置FPGA的實(shí)現(xiàn)

　　1 引言　　ARM(Advanced RISC Machines)既可以認(rèn)為是一個(gè)公司。也可以認(rèn)為是對(duì)一類(lèi)微處理器的統(tǒng)稱(chēng)，還可以認(rèn)為是一項(xiàng)技術(shù)?；贏RM技術(shù)的微處理器應(yīng)用約占據(jù)了32位RISC微處理器75％以上的市場(chǎng)份額，ARM技術(shù)正在逐步滲入到人們生活的各個(gè)方面[1]。到目前為止，ARM微處理器及技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用到各個(gè)領(lǐng)域，包括工業(yè)控制領(lǐng)域、網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用、消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品、成像和安全產(chǎn)品等。　　FPGA(Field Programmable Gate Array)是一種高密度現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯器件，
關(guān)鍵字： ARM 嵌入式 FPGA SRAM

基于FPGA的數(shù)據(jù)無(wú)阻塞交換設(shè)計(jì)

　　0 引言　　隨著FPGA和大規(guī)模集成電路的發(fā)展，數(shù)據(jù)交換的實(shí)現(xiàn)有了新的方法。在該設(shè)計(jì)中，F(xiàn)PGA完成串口數(shù)據(jù)信號(hào)(TXD、RXD)的交換，專(zhuān)用的時(shí)隙交換芯片完成串口握手線(RTS、CTS、DTR、DSR、DCD、RI)的交換。內(nèi)部有硬件沖突監(jiān)測(cè)功能，能夠自動(dòng)檢測(cè)到2個(gè)終端同時(shí)連接到同一個(gè)信道或2個(gè)信道連接到同一個(gè)終端，并自動(dòng)將舊的連接狀態(tài)拆除，建立新的鏈路。這樣就使原來(lái)的連接終端進(jìn)入空閑狀態(tài)，保證終端和信道時(shí)間軸上的無(wú)縫隙切換。通過(guò)判斷RI的狀態(tài)，它還可以監(jiān)視信道DCE的狀態(tài)，判斷出信道是否有請(qǐng)求
關(guān)鍵字： FPGA 集成電路數(shù)據(jù)交換串口

FPGA躋身汽車(chē)系統(tǒng)關(guān)鍵應(yīng)用領(lǐng)域

　　消費(fèi)者迫切需求的輔助駕駛系統(tǒng)技術(shù)需要具有先進(jìn)精密功能且外形尺寸又非常小的高可靠性元件。由于這些系統(tǒng)尺寸很小，而且彼此非常靠近，因此還要求器件具有超低功耗和良好的耐久性?？臻g受限的系統(tǒng)在設(shè)計(jì)方面存在的熱可靠性問(wèn)題可通過(guò)采用較少的元件及超低的功耗來(lái)解決。Actel公司以Flash為基礎(chǔ)的ProASIC3 FPGA具有固件錯(cuò)誤免疫力、低功耗和小外形尺寸等優(yōu)勢(shì)，因而消除了FPGA（現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列）用于安全關(guān)鍵汽車(chē)應(yīng)用領(lǐng)域的障礙。　　汽車(chē)工程師過(guò)去通常依賴(lài)于MCU(微控制器)和定制ASIC（專(zhuān)用集成電
關(guān)鍵字： FPGA ASIC MCU ProASIC3 半導(dǎo)體器件

基于FPGA+DSP的實(shí)時(shí)圖像處理平臺(tái)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

藥用管制瓶在灌裝前必須進(jìn)行多個(gè)指標(biāo)檢測(cè)。針對(duì)實(shí)際生產(chǎn)的需要，基于FPGA和DSP，提出并設(shè)計(jì)了小型化、低功耗的多通道高速實(shí)時(shí)圖像采集、處理和顯示系統(tǒng)。給出了影響系統(tǒng)性能的主要因素。
關(guān)鍵字：平臺(tái) 設(shè)計(jì) 實(shí)現(xiàn) 圖像處理實(shí)時(shí) FPGA DSP 基于