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一種通用型JTAG調(diào)試器的設(shè)計(jì)
- 一種通用型JTAG調(diào)試器的設(shè)計(jì),System-ON-a-Programmable-Chip,即可編程片上系統(tǒng)。 用可編程邏輯技術(shù)把整個(gè)系統(tǒng)放到一塊硅片上,稱作SOPC??删幊唐舷到y(tǒng)(SOPC)是一種特殊的嵌入式系統(tǒng):首先它是片上系統(tǒng)(SOC),即由單個(gè)芯片完成整個(gè)系統(tǒng)的主
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JTAG接口在線燒寫Flash的實(shí)現(xiàn)
- JTAG接口在線燒寫Flash的實(shí)現(xiàn),為了解決TMS320VC55X 系列DSP 系統(tǒng)程序代碼的保存問題,設(shè)計(jì)了一種利用JTAG 接口,在線燒寫Flash 并實(shí)現(xiàn)自舉啟動(dòng)的方法。這種在線編程的方法利用并行外部存儲(chǔ)器加載(EMIF)接口將TMS320VC5509 和Flash 芯片相連接, 通
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AVR jtag 在線仿真調(diào)試快速入門
- 本文詳細(xì)介紹AVR jtag的連接連接,下載和調(diào)試方法與過程。軟件環(huán)境:ICC+AVRstudio,硬件環(huán)境atmega16 開發(fā) ...
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JTAG仿真接口電路設(shè)計(jì)
- JTAG仿真接口電路設(shè)計(jì), 連接測試組(JTAG,Joint Test Action Group)接口用于連接最小系統(tǒng)板和仿真器,實(shí)現(xiàn)仿真器對(duì)DSP的訪問,JTAG接口的連接需要和仿真器上的接口一致。不論什么型號(hào)的仿真器,其JTAG接口都滿足IEEE 1149.1的標(biāo)準(zhǔn)。滿足I
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基于JTAG仿真器的DSP中斷檢測處理技術(shù)
- 數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)是一門發(fā)展很快的新興學(xué)科,它的應(yīng)用十分廣泛,如通訊、控制、圖像和語音處理、測量與控制、醫(yī)學(xué)等。[2]數(shù)字信號(hào)處理平臺(tái)主要有 DSP、單片機(jī)、通用 /工控計(jì)算機(jī)、FPGA/CPLD等,文章主要介紹了在進(jìn)行數(shù)字信號(hào)處理時(shí),利用 JTAG(Joint TEST Advisory GROUP)技術(shù)的仿真器在 CCS平臺(tái)下對(duì) TMS320 C54x系列 DSP芯片實(shí)現(xiàn)在線編程,進(jìn)行在線調(diào)試時(shí)中斷檢測處理技術(shù)及其應(yīng)用。
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JTAG模式下的MPC5554外部FLASH編程的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 0 引 言
隨著信息技術(shù)的發(fā)展,嵌入式系統(tǒng)越來越廣泛地應(yīng)用于手機(jī)通信、汽車、航空航天、工業(yè)控制等領(lǐng)域。在這些電子產(chǎn)品中,大多以嵌人式微處理器為核心,配套相關(guān)的外圍輔助設(shè)備,對(duì)控制對(duì)象進(jìn)行軟硬件的功能 - 關(guān)鍵字: 編程 設(shè)計(jì) 實(shí)現(xiàn) FLASH 外部 模式 MPC5554 JTAG
一種嵌入式系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的JTAG調(diào)試器
- 一種嵌入式系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的JTAG調(diào)試器, JTAG 作為一個(gè)通用的標(biāo)準(zhǔn)器件功能測試接口, 具有靈活高效、易于實(shí)現(xiàn)等優(yōu)點(diǎn), 是微控制器、微處理器、DSP、SoC 等器件的重要外部接口。它不但可以用來測試內(nèi)部功能模塊狀態(tài), 而且可以實(shí)現(xiàn)在線調(diào)試(ICE)功能。arm
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風(fēng)河JTAG開發(fā)工具支持Freescale、Intel和RMI處理器
- 全球領(lǐng)先的設(shè)備軟件優(yōu)化(DSO)廠商風(fēng)河系統(tǒng)公司(Wind River)宣布推出Wind River Workbench On-Chip Debugging 3.1.1,將這套綜合性開發(fā)工具的支持平臺(tái)拓展到Freescale、Intel和RMI處理器。此前,風(fēng)河的Wind River On-Chip Debugging解決方案已經(jīng)支持ARM、MIPS、Power Architecture和ColdFire等廣泛的處理器架構(gòu)。隨著新版本W(wǎng)ind River Workbench On-Chip Debug
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jtag介紹
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測試行為組織)”的詞頭字母的簡寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細(xì) ]
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