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JTAG接口解讀
- 通常所說的JTAG大致分兩類，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題；一類用于Debug；一般支持JTAG的CPU內都包含了這兩個模塊。一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時鐘正常，就可以通過JTAG接口訪問CPU的內部寄存器和掛在CPU總線上的設備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。 上面說的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需
- 關鍵字： Jtag
JTAG測試技術
- 2004年11月JTAG Technology JTAG(聯合測試行動組)標準在80代是通用的。JTAG技術實際上稱之為IEEE1149.1或邊界掃描，由于電子行業(yè)幾乎每個人都熟悉“JTAG”這個名稱，所以“JTAG”用來表示IEEE1149.1技術。 電路內測試器 測試復雜板的老方法是用電路內測試器(ICT)。這種測試方法的測試頭是用“釘床”(見圖1)，焊節(jié)點和遮蓋的焊球使得這種測
- 關鍵字： JTAG
邊界掃描與電路板測試技術
- 摘 要： 本文論述了邊界掃描技術的基本原理和邊界掃描在電路板測試及在FPGA、DSP器件中的應用。介紹了為提高電路板的可測試性而采用邊界掃描技術進行設計時應注意的一些基本要點。關鍵詞： 邊界掃描測試；JTAG；電路板測試；可測試性設計引言電子器件的生產商和電子產品的制造商都在傾向于采用最新的器件技術，如BGA、CSP(芯片規(guī)模封裝)、TCP(倒裝芯片封裝)和其它更小的封裝，以提供更強的功能、更小的體積，并節(jié)省成本。電路板越來越密、器件越來越復雜、電路性能要求越來越苛刻，越來越難的接入問題導致了工業(yè)標準
- 關鍵字： JTAG 邊界掃描測試 電路板測試 可測試性設計 PCB 電路板
jtag介紹
JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯合測試行為組織）”的詞頭字母的簡寫，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標準。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結構標準。該標準規(guī)定了進行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準后，IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細 ]
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