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ni-visa 文章進(jìn)入ni-visa技術(shù)社區(qū)

NI 圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺助力2012 中國機(jī)器人大賽

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)攜手上海交通大學(xué)于2012年12月1日到2日共同舉行2012中國機(jī)器人大賽暨RoboCup公開賽(上海賽區(qū))籃球機(jī)器人比賽。來自全國各地9所高校的9支隊(duì)伍、共50余名參賽隊(duì)員代表參加了此次比賽，圍繞籃球機(jī)器人1大項(xiàng)3小項(xiàng)項(xiàng)目展開競技。
關(guān)鍵字： NI 圖形化系統(tǒng) 機(jī)器人

NI推出6款用于NI CompactRIO及NI CompactDAQ平臺的I/O模塊

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日針對NI CompactRIO嵌入式控制系統(tǒng) 和 NI CompactDAQ模塊化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)推出了6款全新的C系列模塊。通過擴(kuò)展C系列平臺, NI為工程師和科學(xué)家提供全新升級的用于廣泛嵌入式控制、監(jiān)測和數(shù)據(jù)采集的各種選項(xiàng)。
關(guān)鍵字： NI 測量平臺嵌入式

在無人機(jī)制導(dǎo)、導(dǎo)航與控制中應(yīng)用半實(shí)物仿真

“使用NI PXI，我們能夠在實(shí)時(shí)狀態(tài)下以低延時(shí)完成復(fù)雜的無人機(jī)模型仿真，并完美地模擬了航空設(shè)備界面?！?/li>
關(guān)鍵字： NI HIL LabVIEW

使用LabVIEW、PXI、DAQ和DIAdem搭建聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測系統(tǒng)

“我們使用NI LabVIEW軟件和NI PXI數(shù)據(jù)采集硬件開發(fā)聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測系統(tǒng)來采集、處理所有的相關(guān)板載數(shù)據(jù)，并使用NI DIAdem搭建了一個(gè)后處理系統(tǒng)?！?/li>
關(guān)鍵字： NI 監(jiān)測系統(tǒng) LabVIEW

Qualcomm使用NI VST進(jìn)行802.11ac測試，改進(jìn)測試速度和范圍

就傳統(tǒng)儀器而言，每次測試大約會取得40個(gè)重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據(jù)點(diǎn)。 NI PXI矢量信號收發(fā)儀的測試速度非?？?，因此能執(zhí)行完整的增益表掃頻，進(jìn)而采集共300,000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。
關(guān)鍵字： NI Qualcomm 測試 FPGA

NI參加2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會。NI在此研討會上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測試——從研發(fā)驗(yàn)證到制造測試"的精彩演講，演講人NI中國無線通信行業(yè)市場經(jīng)理湯敏被評為"企業(yè)演講最佳演講人"。
關(guān)鍵字： NI TD-LTE 通信

NI PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀助半導(dǎo)體移動(dòng)設(shè)備制造商降低測試成本

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA，它經(jīng)進(jìn)一步優(yōu)化，可幫助工程師滿足日益復(fù)雜的射頻測試要求，而其成本、尺寸和使用所需時(shí)間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。
關(guān)鍵字： NI 分析儀 PXIe-5632

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
關(guān)鍵字： NI TestStand 測試系統(tǒng)

儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)

由美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會”中國站于11月16日在北京萬達(dá)索菲特大飯店圓滿落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)”為主題，向近千位來自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動(dòng)測試測量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域及創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)用方面一直所做的努力。
關(guān)鍵字： NI 測試測量嵌入式

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
關(guān)鍵字： NI 自動(dòng)化測試

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架，能夠簡化自動(dòng)化測試的開發(fā)和報(bào)告生成。NI TestStand 2012包含新的異步數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告生成方法，適用于并行測試，還能夠提升測試吞吐量。
關(guān)鍵字： NI 測試

復(fù)雜的汽車電子系統(tǒng)需要高效的測試解決方案

美國國家儀器公司(NI)在汽車電子領(lǐng)域已經(jīng)耕耘了多年，在半導(dǎo)體技術(shù)與汽車融合的大趨勢下，他們有哪些舉措呢?為此，我們采訪了NI公司汽車電子方面的產(chǎn)品經(jīng)理Noah Reading，聽他來講述NI公司在汽車電子方面的解決之道。
關(guān)鍵字： NI ECU 汽車電子

LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件對數(shù)字開發(fā)的影響

長期以來的預(yù)測趨勢揭示了整個(gè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程中的設(shè)計(jì)和測試趨于統(tǒng)一，這兩個(gè)先前獨(dú)立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢在于縮短了投入市場的時(shí)間并獲得更好的整體質(zhì)量，而這些優(yōu)勢都?xì)w功于在創(chuàng)建設(shè)計(jì)的同時(shí)集成了測試定義和實(shí)現(xiàn)。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程中，從仿真到實(shí)現(xiàn)以及最終系統(tǒng)部署，都可以對這些早期測試平臺進(jìn)行重用。
關(guān)鍵字： NI LabVIEW FPGA

整合高性能儀器和FPGA 實(shí)現(xiàn)最佳WLAN測量

在下一代無線局域網(wǎng)白皮書中已經(jīng)討論了最新的802.11標(biāo)準(zhǔn)存在的一些問題。眾所周知，測試工程師都想盡快找到測試該標(biāo)準(zhǔn)的測試設(shè)備。大多數(shù)測試工程師發(fā)現(xiàn)使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法適用于該情況。出現(xiàn)該問題的原因十分簡單：測試工程師急需各種資源，主要包括時(shí)間、預(yù)算和空間。
關(guān)鍵字： NI FPGA WLAN

NI提供802.11ac WLAN和低耗電藍(lán)牙技術(shù)測試解決方案

全新發(fā)布的針對802.11ac WLAN以及低耗電藍(lán)牙(BLE)技術(shù)測試的NI解決方案集成了NI WLAN測量套件，基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信號收發(fā)儀(VST)以及NI LabVIEW，可以幫助搭建高性能、基于軟件設(shè)計(jì)的測試系統(tǒng)。
關(guān)鍵字： NI FPGA WLAN

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鎳鎘電池自動(dòng)充電器--Ni-Cd Battery Charger
自制鎳氫、鎳鎘電池脈沖充電器--Ni-MH battery charger
硬件在環(huán)仿真（HIL）：NI領(lǐng)先汽車測試關(guān)鍵之匙
基于NI VeriStand與NI PXI平臺的汽車ECU硬件

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NI PXIe-2515 Specifications
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NI-PXIe-8285 尺寸圖紙
NI白皮書-PXI-2584
NI PXI-2548白皮書
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