ni-visa 文章 進(jìn)入ni-visa技術(shù)社區(qū)
NI LabWindows/CVI 2012加速測試測量應(yīng)用程序的開發(fā)
- NI LabWindows/CVI 2012，是用于測試測量應(yīng)用的ANSI C集成開發(fā)環(huán)境(IDE)的一個重要的升級更新，它增添了許多全新工具包并包含了許多經(jīng)過改善-了的工具包，能夠幫助工程師更加快速地開發(fā)他們的系統(tǒng)。
- 關(guān)鍵字： NI LabWindows/CVI 測試測量
構(gòu)建新型儀器：軟件定義的儀器
- 如同每個孩子所擁有的第一套LEGO玩具改變了他們對世界的認(rèn)識一樣，26年前，美國國家儀器通過NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件，重新改變了人們對儀器的認(rèn)知。今年，NI將再次重演歷史，發(fā)布一款新型儀器，幫助測試工程師擺脫廠商定義儀器的束縛。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW VST PXIe-5644R
了解LabVIEW FPGA和軟件設(shè)計(jì)射頻儀器的優(yōu)勢所在
- 概覽 無線設(shè)備的數(shù)量、通信標(biāo)準(zhǔn)的多樣性，以及調(diào)制方案的復(fù)雜度，每一年都在不斷增加。而隨著每一代新技術(shù)的誕生，由于使用傳統(tǒng)技術(shù)測試無線設(shè)備，需要大量更復(fù)雜的測試設(shè)備，其成本也在不斷提高。 使用虛擬(軟件)儀器與模塊化I/O相結(jié)合是一種最小化硬件成本并減少測試時間的方法。軟件設(shè)計(jì)儀器的新方法使得射頻測試工程師無需憑借自定義或特殊標(biāo)準(zhǔn)的儀器，就能以多個數(shù)量級的幅度減少測試時間。
- 關(guān)鍵字： NI 虛擬(軟件)儀器 LabVIEW FPGA vst
獨(dú)立式NI CompactDAQ系統(tǒng)簡介
- NI擴(kuò)展了NI CompactDAQ平臺，發(fā)布了用于高性能嵌入式采集和記錄的獨(dú)立數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。NI cDAQ-9138和NI cDAQ-9139機(jī)箱具備內(nèi)置Intel Core i7雙核處理器，使得NI CompactDAQ在將數(shù)據(jù)記錄至板載內(nèi)存的同時運(yùn)行采集和分析軟件。NI CompactDAQ首次可以完全獨(dú)立于外部計(jì)算機(jī)單獨(dú)運(yùn)行，為嵌入式測量和記錄應(yīng)用提供了更佳的性能和靈活性。
- 關(guān)鍵字： NI 嵌入式 CompactDAQ
NI PXI結(jié)合FPGA實(shí)現(xiàn)最佳WLAN測量 支持802.11ac
- 在下一代無線局域網(wǎng)白皮書中已經(jīng)討論了最新的802.11標(biāo)準(zhǔn)存在的一些問題。眾所周知，測試工程師都想盡快找到測試該標(biāo)準(zhǔn)的測試設(shè)備。大多數(shù)測試工程師發(fā)現(xiàn)使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法適用于該情況。
- 關(guān)鍵字： NI MIMO PXIe-5644R
第八屆NI高校教師交流會舉辦
- 近日，第八屆NI高校教師交流會(Professor Day 2012)在哈爾濱舉辦，來自全國22個省/直轄市、110所高校的244余名教師受邀參加。NI的高校教師交流會一直致力于用NI先進(jìn)的科技與全新的理念，為高校教師提供分享工程教育的創(chuàng)新理念與前沿技術(shù)的交流平臺。
- 關(guān)鍵字： NI 測試測量 圖形化系統(tǒng) 201209
NI發(fā)布兩款全新NI CompactRIO擴(kuò)展機(jī)箱
- 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布8槽NI 9154 MXI-Express RIO擴(kuò)展機(jī)箱和4槽NI 9146以太網(wǎng)RIO擴(kuò)展機(jī)箱，進(jìn)一步擴(kuò)大了C系列平臺的規(guī)模，使其能夠連接需要成百上千I/O通道的應(yīng)用。 通過NI LabVIEW FPGA模塊，工程師可進(jìn)行自定制在線處理、閉環(huán)控制、同步以及自定義定時和觸發(fā)，由此完全控制兩個機(jī)箱內(nèi)的現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)的功能。
- 關(guān)鍵字： NI RIO FPGA
NI和JSOL助力電機(jī)工程師節(jié)省開發(fā)時間與成本
- 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布用于NI VeriStand的JMAG-RT附件，在實(shí)時的電機(jī)硬件在環(huán)(HIL)測試中，為工程師們提供了接近久經(jīng)驗(yàn)證的JMAG模型的精確度。 為了減少現(xiàn)場測試物理電機(jī)的開支，工程師可在實(shí)驗(yàn)室中使用針對NI VeriStand的JMAG-RT附件，輕松地創(chuàng)建激勵配置，通過實(shí)時電機(jī)仿真進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄，以及自動化HIL測試。
- 關(guān)鍵字： NI JSOL JMAG-RT
ni-visa介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條ni-visa!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對ni-visa的理解，并與今后在此搜索ni-visa的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對ni-visa的理解，并與今后在此搜索ni-visa的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
ni-visa電路
ni-visa相關(guān)帖子
ni-visa資料下載
ni-visa專欄文章
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473