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rf-cmos 文章進(jìn)入rf-cmos技術(shù)社區(qū)

用于CMOS圖像傳感器的流水線ADC設(shè)計(jì)及其成像驗(yàn)證

摘要：在對低噪聲CMOS圖像傳感器的研究中，除需關(guān)注其噪聲外，目前數(shù)字化也是它的一個(gè)重要的研究和設(shè)計(jì)方向，設(shè)計(jì)了...
關(guān)鍵字：流水線ADC CMOS 圖像傳感器 Labview

基于單片機(jī)CMOS汽車電子調(diào)節(jié)器

基于單片機(jī)CMOS汽車電子調(diào)節(jié)器引言汽車電子化程度現(xiàn)已成為國際衡量汽車先進(jìn)水平的重要標(biāo)準(zhǔn)，也正是由于這個(gè)原因推動和刺激當(dāng)前汽車電子這一行業(yè)不斷向前發(fā)展，各國都競相發(fā)展，不斷應(yīng)用高新技術(shù)，提高汽車電氣化性能
關(guān)鍵字： CMOS 單片機(jī) 汽車電子調(diào)節(jié)器

亞微米CMOS電路中VDD-VSSESD保護(hù)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)（二）

3 仿真分析及具體設(shè)計(jì)結(jié)果3.1 仿真分析在亞微米的ESD結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)中，一種常見的具體的ESD瞬態(tài)檢測電壓如圖2 VDD-VSS間的電壓鉗位結(jié)構(gòu)。其原理如下：主要利用結(jié)構(gòu)中的RC延遲作用，一般T=RC被設(shè)計(jì)為100ns-1000ns之間，而
關(guān)鍵字： VDD-VSSESD CMOS 亞微米電路

亞微米CMOS電路中VDD-VSSESD保護(hù)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

1 引言ESD(Electric Static Discharge)保護(hù)結(jié)構(gòu)的有效設(shè)計(jì)是CMOS集成電路可靠性設(shè)計(jì)的重要任務(wù)之一，其ESD結(jié)構(gòu)與工藝技術(shù)、特征尺寸密切相關(guān)，隨著IC工藝技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展，特征尺寸越來越小，管子的柵氧層厚度越來越
關(guān)鍵字： VDD-VSSESD CMOS 亞微米電路

用于低噪聲CMOS圖像傳感器的流水線ADC設(shè)計(jì)及其成像驗(yàn)證

摘要：在對低噪聲CMOS圖像傳感器的研究中，除需關(guān)注其噪聲外，目前數(shù)字化也是它的一個(gè)重要的研究和設(shè)計(jì)方向，設(shè)計(jì)了一種可用于低噪聲CMOS圖像傳感器的12 bit，10 Msps的流水線型ADC，并基于0．5mu;m標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝進(jìn)行
關(guān)鍵字： ADC 設(shè)計(jì) 及其驗(yàn)證流水線傳感器噪聲 CMOS 圖像用于

數(shù)碼相機(jī)的CMOS傳感器知識介紹

標(biāo)簽：數(shù)碼相機(jī) CMOS數(shù)碼相機(jī)的另一個(gè)靈魂CMOS傳感器隨著2005年Canon(佳能)公司發(fā)布其型號為EOS D30的專業(yè)級數(shù)碼相機(jī)后，人們對CMOS影像傳感器的注意力猛然巨增。這是因?yàn)?，CMOS影像傳感器過去有著信噪比小、分辨率
關(guān)鍵字：介紹知識傳感器 CMOS 數(shù)碼相機(jī)

CCD和CMOS圖像傳感器性能的幾大技術(shù)指標(biāo)

CCD和CMOS是圖像傳感器的兩個(gè)主要類別，都有各自的應(yīng)用領(lǐng)域。但近年來，CMOS傳感器逐步吞噬了CCD的市場。為什么CMOS傳感器如此受歡迎呢？評價(jià)一款圖像傳感器性能的技術(shù)指標(biāo)有哪些？下面來為大家詳細(xì)說明。CCD和CMOS圖
關(guān)鍵字：性能技術(shù)指標(biāo) 傳感器圖像 CMOS CCD

淺析CMOS與CCD在內(nèi)部結(jié)構(gòu)與原理的差異

標(biāo)簽：CMOS CCD無論任何產(chǎn)品，品質(zhì)的好壞主要取決于性能的優(yōu)劣，而性能優(yōu)劣的關(guān)鍵跟產(chǎn)品結(jié)構(gòu)和工作原理又有著較大的關(guān)系，CCD和CMOS也既如此?；窘M成CCD是在MOS晶體管的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，其基本結(jié)構(gòu)是MOS(金屬m
關(guān)鍵字：原理差異結(jié)構(gòu) 內(nèi)部 CMOS CCD 淺析

基于1.0μm CMOS工藝的鋸齒波振蕩電路設(shè)計(jì)

本文以比較器為基本電路，采用恒流源充放電技術(shù)，設(shè)計(jì)了一種基于1.0mu;m CMOS工藝的鋸齒波振蕩電路，并對其各單元組成電路的設(shè)計(jì)進(jìn)行了闡述。同時(shí)利用Cadence Hspice仿真工具對電路進(jìn)行了仿真模擬，結(jié)果表明，鋸齒波
關(guān)鍵字： CMOS 1.0 工藝鋸齒波

采用靜態(tài)CMOS和單相能量回收電路的乘法器電路設(shè)計(jì)

O 引言　　電路中的功率消耗源主要有以下幾種：由邏輯轉(zhuǎn)換引起的邏輯門對負(fù)載電容充、放電引起的功率消耗;由邏輯門中瞬時(shí)短路電流引起的功率消耗;由器件的漏電流引起的消耗，并且每引進(jìn)一次新的制造技術(shù)會導(dǎo)致漏電流
關(guān)鍵字： CMOS 單相乘法器能量回收

CMOS數(shù)字隔離器在智能電表中的應(yīng)用

未來幾年由于消費(fèi)者對傳統(tǒng)機(jī)電式電表的更新?lián)Q代，智能電表市場預(yù)計(jì)將以每年兩位數(shù)的速度增長。智能電表使用最新的集成電路(IC)技術(shù)進(jìn)行精確測量并報(bào)告消耗的電量，智能電表比機(jī)電式電表復(fù)雜，但更加注重測量數(shù)據(jù)的完
關(guān)鍵字： CMOS 數(shù)字隔離器智能電表中的應(yīng)用

基于CMOS電路的IDDQ測試電路設(shè)計(jì)

引言　　測試CMOS電路的方法有很多種，測試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應(yīng)測試，即通常所說的功能測試。功能測試可診斷出邏輯錯(cuò)誤，但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路，互連橋短路
關(guān)鍵字： CMOS IDDQ 電路測試

小型CMOS電壓調(diào)整器IC- XC6420

XC6420系列是實(shí)現(xiàn)了高精度,高紋波抑制,低壓差,搭載了2溝道150mA高速LDO的小型CMOS電壓調(diào)整器IC。把2個(gè)...
關(guān)鍵字： CMOS 電壓調(diào)整器IC

基于CMOS工藝的高阻抗并行A/D芯片TLC5510

1　概述TLC5510是美國TI公司生產(chǎn)的新型模數(shù)轉(zhuǎn)換器件(ADC)，它是一種采用CMOS工藝制造的8位高阻抗并行A/D芯片，能提供的最小采樣率為20MSPS。由于TLC5510采用了半閃速結(jié)構(gòu)及CMOS工藝，因而大大減少了器件中比較器的數(shù)
關(guān)鍵字： CMOS 5510 TLC 工藝

CMOS與CCD圖像傳感器特性對比分析

CCD（Charge Coupled Device）圖像傳感器（以下簡稱CCD）和CMOS圖像傳感器（CMOS Image Sensor以下簡稱CIS）的主要區(qū)別是由感光單元及讀出電路結(jié)構(gòu)不同而導(dǎo)致制造工藝的不同。CCD感光單元實(shí)現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換后，以電荷的方
關(guān)鍵字：對比分析特性傳感器 CCD 圖像 CMOS

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rf-cmos電路

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數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)：從VLSI體系結(jié)構(gòu)到CMOS制造.pdf
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