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          臺積電推20nm及CoWoS參考流程

          作者: 時間:2012-10-10 來源:中文業(yè)界資訊站 收藏

            9日宣布,已領(lǐng)先業(yè)界成功推出支援制程與(ChiponWaferonSubstrate)技術(shù)的設(shè)計參考流程,展現(xiàn)該公司在開放創(chuàng)新平臺(OpenInnovationPlatform,OIP)架構(gòu)中,支援技術(shù)的設(shè)計環(huán)境已準備就緒。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/137503.htm

            強調(diào),參考流程,是采用現(xiàn)行經(jīng)過驗證的設(shè)計流程協(xié)助客戶實現(xiàn)雙重曝影技術(shù)(DoublePatterningTechnology,DPT),藉由雙重曝影技術(shù)所需知識的布局與配線(PlaceandRoute)、時序(Timing)、實體驗證(PhysicalVerification)及可制造性設(shè)計(DesignforManufacturing,DFM),電子設(shè)計自動化(EDA)領(lǐng)導廠商通過驗證的設(shè)計工具能夠支援的20nm制程。

            此外,臺積電指出,通過矽晶片驗證的參考流程,則能夠整合多晶片以支援高頻寬與低功耗應(yīng)用,加速三維積體電路(3DIC)設(shè)計產(chǎn)品的上市時間,晶片設(shè)計業(yè)者亦受惠于能夠使用電子設(shè)計自動化廠商現(xiàn)有的成熟設(shè)計工具進行設(shè)計。

            臺積電研發(fā)副總侯永清表示,以上參考流程能夠完整的,將臺積電先進的20奈米與CoWoS技術(shù)提供給晶片設(shè)計業(yè)者,以協(xié)助其盡早開始設(shè)計開發(fā)產(chǎn)品。而對于臺積電及其開放創(chuàng)新平臺設(shè)計生態(tài)環(huán)境伙伴而言,首要目標即在于能夠及早、并完整地提供先進的矽晶片與生產(chǎn)技術(shù)給客戶。



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