加速FPGA系統(tǒng)實(shí)時調(diào)試技術(shù)

選擇合適的FPGA調(diào)試方法

上述兩種方法都可以使用，采用哪種方法要視具體情況而定。挑戰(zhàn)在于確定哪種方法更適合您的設(shè)計。用戶可以問自己下面的問題：

預(yù)計有哪些問題?

如果您認(rèn)為問題僅限于FPGA內(nèi)部的功能性問題，那么使用嵌入式邏輯分析儀可以提供要求的所有調(diào)試功能。但是，如果預(yù)計有更多的調(diào)試問題，要求檢驗(yàn)定時余量、把內(nèi)部FPGA活動與電路板上的其它活動關(guān)聯(lián)起來、或要求更強(qiáng)大的觸發(fā)功能，那么使用外部邏輯分析儀更適合滿足調(diào)試需求。

當(dāng)FPGA芯片針腳包含超過200M的高速總線，例如集成內(nèi)存控制器的DDRI、DDRII內(nèi)存總線，以及集成高速SerDes的高速串行I/O總線，信號完整性測試是保證設(shè)計成功的基礎(chǔ)。在本文的后半部分會介紹主流的測試工具和方法。

除狀態(tài)數(shù)據(jù)外，是否需要考察快速定時信息?

外部邏輯分析儀允許以高達(dá)125 ps的分辨率(8GS/s采樣)查看FPGA信號詳細(xì)的定時關(guān)系，這有助于檢驗(yàn)設(shè)計中實(shí)際發(fā)生的事件，檢驗(yàn)設(shè)計的定時余量。嵌入式邏輯分析儀只能捕獲與FPGA中已有的指定時鐘同步的數(shù)據(jù)。

需要捕獲多深的數(shù)據(jù)?

外部邏輯分析儀提供的采集內(nèi)存更深。一般在嵌入式邏輯分析儀中，最大取樣深度設(shè)為128 kb，這一數(shù)字受到器件限制。而在外部邏輯分析儀中，可以捕獲最多256Mb樣點(diǎn)。這有助于查看和分析更多的問題及潛在原因，從而縮短調(diào)試時間。

設(shè)計中更多地受限于針腳還是受限于資源?

使用嵌入式邏輯分析儀不要求任何額外的輸出針腳，但必須使用內(nèi)部FPGA資源，實(shí)現(xiàn)邏輯分析儀功能。使用外部邏輯分析儀要求使用額外的輸出針腳，但使用內(nèi)部FPGA資源的需求達(dá)到最小(或消除了這種需求)。表1匯總了每種方法的相對優(yōu)勢。

FPGAViewTM進(jìn)行FPGA調(diào)試

FPGAView概述

外部邏輯分析儀方法有效利用FPGA的處理能力，并根據(jù)需要重新對設(shè)備配置，把感興趣的內(nèi)部信號路由到通常很少的針腳上。這是一種非常有用的方法，但它也有一定的局限性：

—— 用戶每次需要查看一套不同的內(nèi)部信號時，都必需改變設(shè)計(在RTL級或使用FPGA編輯器工具)，把希望的信號組路由到調(diào)試針腳上。這不僅耗費(fèi)時間，而且如果要求重新匯編設(shè)計，那么還會改變設(shè)計的定時，可能會隱藏需要解決的問題。

—— 當(dāng)更改FPGA內(nèi)部測試信號時，在外部邏輯分析儀上的被測信號名稱需要手工進(jìn)行更新。

—— 一般來說，調(diào)試針腳數(shù)量很少，內(nèi)部信號與調(diào)試針腳之間1:1的關(guān)系限制著設(shè)計查看能

力和洞察力。

為克服這些局限性，出現(xiàn)了一種新的FPGA調(diào)試方法，它不僅提供了外部邏輯分析儀方法的所有優(yōu)勢，還消除了主要局限性。FPGAView軟件在與泰克TLA系列邏輯分析儀配套使用時，為調(diào)試FPGA和周邊硬件電路提供了一個完整的解決方案(參見圖2)。

這種組合可以：

—— 時間關(guān)聯(lián)的查看FPGA內(nèi)部活動和外部活動。

—— 迅速改變FPGA內(nèi)部探點(diǎn)，而無需重新匯編設(shè)計。

—— 每個針腳監(jiān)測多個內(nèi)部信號。

—— 在TLA邏輯分析儀上自動更新切換的內(nèi)部信號名稱。

此外，F(xiàn)PGAView可以在一臺設(shè)備中處理多個測試內(nèi)核(適合監(jiān)測不同的時鐘域)，并可以在一個JTAG鏈上處理多臺FPGA設(shè)備。

[圖示內(nèi)容：]

PC Board: PCB電路板

Test Mux: 測試復(fù)用器

Tektronix Logic Analyzer Probe: 泰克邏輯分析儀探頭

USB Converter: USB轉(zhuǎn)換器

FPGAView™ Software: FPGAView™軟件

快速使用FPGAView

可以通過下面幾個簡單的步驟使用FPGAView：

第1步. 在設(shè)計中配置和插入相應(yīng)的測試內(nèi)核

第2步. 加載測試內(nèi)核信息

第3步. 建立FPGA針腳與TLA邏輯分析儀通道的對應(yīng)關(guān)系

第4步. 進(jìn)行測量