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          封裝CAD技術(shù)概述

          作者: 時(shí)間:2012-08-07 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          1. 引言

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/190067.htm

          技術(shù)起步于20世紀(jì)50年代后期。系統(tǒng)的發(fā)展和應(yīng)用使傳統(tǒng)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)方法與生產(chǎn)模式發(fā)生了深刻的變化,產(chǎn)生了巨大的社會(huì)經(jīng)濟(jì)效益。隨著計(jì)算機(jī)軟、硬件技術(shù)的發(fā)展,技術(shù)已發(fā)展成為面向產(chǎn)品設(shè)計(jì)全過(guò)程各階段(包括概念設(shè)計(jì)、方案設(shè)計(jì)、詳細(xì)設(shè)計(jì)、分析及優(yōu)化設(shè)計(jì)、仿真試驗(yàn)定型等階段)的設(shè)計(jì)技術(shù)。CAD技術(shù)作為工程技術(shù)的巨大成就,已廣泛應(yīng)用于工程設(shè)計(jì)的各個(gè)領(lǐng)域,特別是微電子領(lǐng)域。CAD技術(shù)的進(jìn)步和革新總是能在很短的時(shí)間內(nèi)體現(xiàn)在微電子領(lǐng)域,并極大地推動(dòng)其技術(shù)進(jìn)步,反過(guò)來(lái),微電子的不斷發(fā)展也帶動(dòng)了CAD所依賴的計(jì)算機(jī)軟、硬件技術(shù)的發(fā)展。

          電子CAD是CAD技術(shù)的一個(gè)重要分支,其發(fā)展結(jié)果是實(shí)現(xiàn)電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)。傳統(tǒng)上,電子系統(tǒng)或子系統(tǒng)是通過(guò)設(shè)計(jì)者開發(fā)新IC芯片、芯片通過(guò)成為器件、各種元器件再組裝到基板上而實(shí)現(xiàn)的。它們之間相互制約和相互促進(jìn),因而CAD技術(shù)的發(fā)展與芯片CAD技術(shù)和組裝CAD技術(shù)的發(fā)展密不可分,互相滲透和融合。芯片CAD技術(shù)和基板CAD技術(shù)已有不少專文介紹。本文主要介紹CAD技術(shù)的發(fā)展歷程。

          2 .發(fā)展歷程

          根據(jù)計(jì)算機(jī)軟、硬件以及電子封裝技術(shù)的發(fā)展水平,可以將CAD技術(shù)在電子封裝的應(yīng)用分以下四個(gè)階段。

          2.1 起步階段

          20世紀(jì)60、70年代,是CAD軟件發(fā)展的初始階段,隨著計(jì)算機(jī)硬件技術(shù)的發(fā)展,在計(jì)算機(jī)屏幕上進(jìn)行繪圖變?yōu)榭尚?,此時(shí)CAD技術(shù)的出發(fā)點(diǎn)是用傳統(tǒng)的三視圖方法來(lái)表達(dá)零件,以圖紙為媒介來(lái)進(jìn)行技術(shù)交流,是一種二維計(jì)算機(jī)繪圖技術(shù)。CAD的含義僅是Computer-Aided Drawing(or Drafting),而并非現(xiàn)在所說(shuō)的ComputerAided Design。CAD技術(shù)以二維繪圖為主要目標(biāo)的算法一直持續(xù)到70年代末期,并在以后作為CAD技術(shù)的一個(gè)分支而相對(duì)獨(dú)立存在。當(dāng)時(shí)的IC芯片集成度較低,人工繪制有幾百至幾千個(gè)晶體管的版圖,工作量大,也難以一次成功,因此開始使用CAD技術(shù)進(jìn)行版圖設(shè)計(jì),并有少數(shù)軟件程序可以進(jìn)行邏輯仿真和電路仿真。當(dāng)時(shí)比封裝的形式也很有限,雙列直插封裝(DIP)是中小規(guī)模IC電子封裝主導(dǎo)產(chǎn)品,并運(yùn)用通孔安裝技術(shù)(THT)布置在PCB上。電子封裝對(duì)CAD技術(shù)的需求并不十分強(qiáng)烈,引入CAD主要是解決繪圖問(wèn)題,因而對(duì)電子封裝來(lái)說(shuō),CAD技術(shù)應(yīng)用只是起步階段。那是CAD技術(shù)真正得到廣泛使用的是PCB,在20世紀(jì)80年代以前就出現(xiàn)了一系列用于PCB設(shè)計(jì)、制造和測(cè)試的CAD/CAM系統(tǒng)。借助它們不僅擺脫繁瑣、費(fèi)時(shí)、精度低的傳統(tǒng)手工繪圖,而且縮短交貨周期,提高成品率,成本降低50%。據(jù)統(tǒng)計(jì),1983年全年設(shè)計(jì)的PCB有一牛是基于CAD系統(tǒng)。在這一時(shí)期,電子CAD作為一個(gè)軟件產(chǎn)業(yè)已逐漸形成,微電子開始進(jìn)入EDA階段。

          2.2 普遍應(yīng)用階段

          20世紀(jì)80年代是EDA從工作站軟件到PC軟件迅速發(fā)展和普遍應(yīng)用的階段。這一時(shí)期計(jì)算機(jī)硬件技術(shù)發(fā)展十分迅速:32位工作站興起,網(wǎng)絡(luò)技術(shù)開始發(fā)展,計(jì)算機(jī)硬件性價(jià)比不斷提高,計(jì)算機(jī)圖形技術(shù)也不斷進(jìn)步,這些為CAD軟件的發(fā)展提供了有利條件。從70年代末開始,芯片的開發(fā)應(yīng)用了各種邏輯電路模擬仿真技術(shù),應(yīng)用了自動(dòng)布局、布線工具,實(shí)現(xiàn)了LSI的自動(dòng)設(shè)計(jì)。組裝技術(shù)也在基板CAD的支持下向布線圖形微細(xì)化、結(jié)構(gòu)多層化發(fā)展,并開始了從通孔安裝技術(shù)(THT)向表面安裝技術(shù)(SMT)發(fā)展的進(jìn)程。這些都構(gòu)成了對(duì)電子封裝發(fā)展的巨大推動(dòng)力,要求電子封裝的引腳數(shù)更多,引腳節(jié)距更窄,體積更小,并適合表面安裝。原有的兩側(cè)布置引腳、引腳數(shù)目有限、引腳節(jié)距2.54mm、通孔安裝的DIP遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足需要。四邊引腳扁平封裝(QFP)、無(wú)引腳陶瓷片式載體(LCCC)、塑料有引腳片式載體(PLCC)等可以采用SMT的四周布置引腳的封裝形式應(yīng)運(yùn)而生。也出現(xiàn)了封裝引腳從四周型到面陣型的改變,如針柵陣列(PGA)封裝,這是一種可布置很高引腳數(shù)的采用THT的封裝形式(后來(lái)短引腳的PGA也可以采用SMT)。另一方面,結(jié)合著芯片技術(shù)和基板技術(shù)特點(diǎn)的HIC也對(duì)封裝提出更高的要求。

          對(duì)封裝來(lái)說(shuō),隨著IC組裝密度增加,導(dǎo)致功率密度相應(yīng)增大,封裝熱設(shè)計(jì)逐漸成為一個(gè)至關(guān)重要的問(wèn)題。為此,Hitachi公司開發(fā)了HISETS(Hitachi Semiconductor Thermal Stength Design System),該系統(tǒng)將五個(gè)程序結(jié)合在一起,可對(duì)6個(gè)重要的封裝設(shè)計(jì)特性進(jìn)行統(tǒng)一分析,即(1)熱阻、(2)熱變形、(3)熱應(yīng)力、(4)芯片和基板的熱阻、(5)鍵合層的壽命、(6)應(yīng)力引起電性能的改變。一個(gè)合適的封裝結(jié)構(gòu)可以通過(guò)模擬反復(fù)修改,直到計(jì)算結(jié)果滿足設(shè)計(jì)規(guī)范而很快獲得。有限元分析軟件與封裝CAD技術(shù)的結(jié)合,開發(fā)出交互式計(jì)算機(jī)熱模型,可以在材料、幾何、溫度改變等不同情況下得出可視的三維圖形結(jié)果。Wilkes College開發(fā)了穩(wěn)態(tài)熱分析的CAD軟件,可以快速有效地進(jìn)行熱沉設(shè)計(jì)。通過(guò)有限元分析的交互式計(jì)算機(jī)熱模型可以用數(shù)字和圖形分析帶有熱沉的多層復(fù)合材料的晶體管封裝三維傳熱系統(tǒng),并可顯示幾何的改變所導(dǎo)致的整個(gè)封裝結(jié)構(gòu)細(xì)微溫度分布情況。

          封裝設(shè)計(jì)者面臨的另一個(gè)問(wèn)題是在把封裝設(shè)計(jì)付諸制造前如何預(yù)測(cè)它的電性能,Honeywell Physical Sciences Center開發(fā)了一種CAD工具,可以對(duì)實(shí)際封裝結(jié)構(gòu)得到模型進(jìn)行仿真來(lái)分析電性能。在與芯片模型結(jié)合后,這些模型可以對(duì)整個(gè)多層封裝進(jìn)行實(shí)時(shí)仿真和timing分析,并對(duì)其互連性能做出評(píng)價(jià)。

          Mentor Graphics公司用C++語(yǔ)言開發(fā)了集封裝電、機(jī)、熱設(shè)計(jì)為一體的系統(tǒng),可以通過(guò)有限元分析軟件對(duì)電子封裝在強(qiáng)制對(duì)流和自然對(duì)流情況下進(jìn)行熱分。

          在這一時(shí)期,對(duì)PGA封裝的CAD軟件和專家系統(tǒng)也有不少介紹。通過(guò)在已有IC設(shè)計(jì)或PCB設(shè)計(jì)軟件基礎(chǔ)上增添所缺少的HIC專用功能,也開發(fā)了很多HIC專用CAD軟件,其中包括HIC封裝的CAD軟件。Kesslerll//介紹了Rockwell International公司微波組件的封裝使用CAD/CAM進(jìn)行設(shè)計(jì)和制造的情況,可以演示從概念到所制出外殼的設(shè)計(jì)過(guò)程。

          2.3 一體化和智能化的階段

          20世紀(jì)90年代,在計(jì)算機(jī)和其他領(lǐng)域不斷出現(xiàn)新技術(shù),不同領(lǐng)域技術(shù)的融合,徹底改善了人機(jī)關(guān)系,特別是多媒體和虛擬現(xiàn)實(shí)等技術(shù)出現(xiàn)為CAD工具的模擬與仿真創(chuàng)造了條件,深化了計(jì)算機(jī)在各個(gè)工程領(lǐng)域的應(yīng)用,電子封裝CAD技術(shù)也開始進(jìn)入一體化和智能化的階段。從80年代末開始,芯片在先進(jìn)的材料加工技術(shù)和EDA的驅(qū)動(dòng)下,特征尺寸不斷減小,集成度不斷提高,發(fā)展到VLSI階段,SMT也逐漸成為市場(chǎng)的主流。原有的封裝形式,如QFP盡管不斷縮小引腳節(jié)距,甚至達(dá)到0.3mm的工藝極限,但仍無(wú)法解決需要高達(dá)數(shù)百乃至上千引腳的各類IC芯片的封裝問(wèn)題。經(jīng)過(guò)封裝工作者的努力,研究出焊球陣列(BGA)以及芯片尺寸封裝(CSP)解決了長(zhǎng)期以來(lái)芯片小封裝大,封裝總是落后芯片發(fā)展的問(wèn)題。另一方面,在HIG基礎(chǔ)上研究出多芯片組件(MCM),它是一種不需要將每個(gè)芯片先封裝好了再組裝到一起,而是將多個(gè)LSI、VLSI芯片和其他元器件高密度組裝在多層互連基板上,然后封裝在同一殼體內(nèi)的專用電子產(chǎn)品。MCM技術(shù)相對(duì)于PCB而言有許多優(yōu)點(diǎn),比如能從本質(zhì)上減少互連延遲。但由于組件數(shù)量多,各組件和各種性能之間交互作用,也帶來(lái)了新的問(wèn)題,使電設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)、熱設(shè)計(jì)以及模擬仿真等都很復(fù)雜,需要把這些問(wèn)題作為設(shè)計(jì)過(guò)程的一個(gè)完整部分對(duì)熱和信號(hào)一起進(jìn)行分析才能解決。然而,盡管HIC、PCB/MCM和IC的設(shè)計(jì)規(guī)則大體相同,但在不同的設(shè)計(jì)部門里卻往往使用各自的工具工作,這就對(duì)CAD工具提出了要一體化版圖設(shè)計(jì)、靈活解決MCM技術(shù)問(wèn)題的要求,也使得芯片、封裝與基板CAD在解決問(wèn)題的過(guò)程中更加緊密融合在一起。MCM設(shè)計(jì)已有不少專著介紹,也有很多專門軟件問(wèn)世,本文不贅述。

          在這一時(shí)期,封裝CAD的研究十分活躍,如美國(guó)Aluminium公司的Liu等使用邊界元法(BEM)對(duì)電子封裝進(jìn)行設(shè)計(jì),認(rèn)為比有限元法(FEM)能更快得出結(jié)果。McMaster University的Lu等用三維有限差分時(shí)域(3D-FDTD)法從電磁場(chǎng)觀點(diǎn)對(duì)電子封裝問(wèn)題進(jìn)行仿真。University of Arizona的Prince]利用模擬和仿真CAD工具對(duì)封裝和互連進(jìn)行電設(shè)計(jì)。Stantord University的Lee等在設(shè)計(jì)過(guò)程的早期階段使用AVS進(jìn)行3D可視化處理,可對(duì)新的封裝技術(shù)的可制造性進(jìn)行分析并可演示產(chǎn)品。CFD Resarch公司的Przekwas等把封裝、芯片、PCB和系統(tǒng)的熱分析集合在一個(gè)模型里,減少了不肯定的邊界條件,可以進(jìn)一步發(fā)展成為電子冷卻設(shè)計(jì)工具。Geogia Institute of Technology的Zhou等提出了由模塊化FEM(M/FEM)、參數(shù)化FEM(P/FEM)和交互FEM(I/FEM)組成的一個(gè)新型建模方法(MPI/FEM)進(jìn)行封裝設(shè)計(jì)。


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