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基于FPGA的高性能DAC芯片測試與研究

作者：時間：2011-03-23 來源：網絡

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　　Sin 信號測試：輸入正弦波頻率25 kHz，AD 采樣率為100 MHz/s，輸出數字信號經過Matlab 分析計算后，測得SNR是58 dB,SINAD 是57.75 dB,SFDR 是62.84 dB,THD 是58.62 dB,ENOB 是9.3 位。時域波形和FFT 變換后14 階諧波的頻譜如圖4 和圖5 所示。

sin 信號輸出時域波形

圖4 sin 信號輸出時域波形

sin 信號輸出頻域波形

圖5 sin 信號輸出頻域波形

　　4 結語

　　以12 位、250 Ms/s DAC 芯片為例，在FPGA 的基礎上使用回路測試法，測試了其靜態(tài)特性參數和動態(tài)特性參數。實驗結果表明，可以有效地測試DAC 芯片的靜態(tài)特性參數和動態(tài)特性參數。同時可以測試不同分辨率和采樣速度的DAC 芯片，測試結果比普通模擬測試儀器的精度高，測試系統(tǒng)比專用DAC 自動測試設備成本低。

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關鍵詞： FPGA DAC 性能 芯片測試

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