芯片-封裝協(xié)同設計方法優(yōu)化SoC

隨著工藝節(jié)點和裸片尺寸不斷縮小，采用倒裝芯片封裝IC器件的消費電子產(chǎn)品的數(shù)量日益增加。但是，倒裝芯片封裝制造規(guī)則還沒有跟上工藝技術發(fā)展的步伐。 本文介紹了用芯片-封裝協(xié)同設計方法優(yōu)化SoC的過程。
隨著工藝節(jié)點和裸片尺寸不斷縮小，采用倒裝芯片封裝IC器件的消費電子產(chǎn)品的數(shù)量日益增加。但是，倒裝芯片封裝制造規(guī)則還沒有跟上工藝技術發(fā)展的步伐。

因此需要一種更精確、更高效的I/O接口設計方法，特別是針對倒裝芯片設計的I/O接口設計方法。這種一體化芯片-封裝協(xié)同設計方法應允許開展早期的可行性研究，還要能優(yōu)化封裝和芯片接口設計，同時能滿足芯片和封裝需要的嚴格約束條件。

目前，大多數(shù)倒裝芯片設計公司都采用內部方法進行倒裝芯片規(guī)劃。這種方法主要利用電子表格捕獲和存儲設計輸入和約束。公司自己開發(fā)腳本處理電子表格中的數(shù)據(jù)，并產(chǎn)生指令去指導設計實現(xiàn)。這種方法通常是從一個簡單的系統(tǒng)開始，然后隨著設計復雜性的提高，逐漸發(fā)展成為一套復雜的格式和腳本。

這種方法有許多缺點。首先，這種系統(tǒng)的維護費用昂貴并會降低設計師的產(chǎn)能。第二，電子表格在設計描述方面有很大的局限性。第三，腳本缺乏綜合能力，無法執(zhí)行假設分析，也無法對設計進行成本、性能和可靠性方面的優(yōu)化。第四，基于電子表格和腳本的系統(tǒng)不能精確預測設計的最終實現(xiàn)。

協(xié)同設計環(huán)境

隨著裸片的不斷縮小以及I/O數(shù)量和速度的不斷提高，芯片和封裝之間的接口很快成為了設計中約束最嚴格的部分。能夠及時并且同時設計出高質量和低成本的封裝與芯片可以實現(xiàn)完全不同于普通或故障芯片的成功產(chǎn)品。

因此需要一種一體化的芯片-封裝協(xié)同設計系統(tǒng)，這種系統(tǒng)要使用工業(yè)標準的數(shù)據(jù)庫OpenAccess，并能與第三方封裝和接口實現(xiàn)工具相接。這種一體化設計環(huán)境能讓設計師在單個數(shù)據(jù)庫中查看和操作芯片與封裝數(shù)據(jù)。由于設計數(shù)據(jù)庫包含了完整的封裝和芯片實現(xiàn)數(shù)據(jù)，這種數(shù)據(jù)庫可以同時供芯片和封裝設計小組使用。

Tcl接口允許用戶開發(fā)Tcl腳本來探測設計數(shù)據(jù)，產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告，并實現(xiàn)設計流程的自動化。通過使用數(shù)據(jù)庫或LEF/DEF等標準接口還可以在協(xié)同設計環(huán)境和第三方芯片與封裝實現(xiàn)工具之間實現(xiàn)數(shù)據(jù)交換。

高效的封裝和芯片協(xié)同設計解決方案必須具有快速建立原型的能力，因為需要在設計周期早期就做出封裝決策，此時設計網(wǎng)表和/或物理庫還沒有準備好。預測最終實現(xiàn)的精度也很重要。如果沒有足夠的精度，在原型設計或規(guī)劃階段做出的設計決策可能導致實現(xiàn)困難，從而嚴重影響出帶時間。

保守的規(guī)劃可能不必要的增加封裝成本。協(xié)同設計系統(tǒng)需要允許用戶開發(fā)出多種場景來讓設計師測試不同的封裝方案。有了這種功能后，用戶可以用不同的基底堆疊方法建立原型設計，并通過可行性檢查找到最便宜的封裝解決方案。

任何設計參數(shù)變化都是遞增的，設計可以用修改后的設置自動更新。例如，如果用戶想試驗具有較少層數(shù)的基底、或較小BGA、或不同比例的I/O焊盤單元，用戶可以在短短幾分鐘內導入/產(chǎn)生一種新的基底堆疊方案，或產(chǎn)生另一個BGA，或建立一套新的I/O單元原型。不同的設計解決方案可以保存為獨立的數(shù)據(jù)庫供比較和設計審查。還可以從可行性和成本方面對每種設計進行評估。

任何規(guī)劃工具需要與最終實現(xiàn)有很好的相關性。一個規(guī)劃只有能夠順利地實現(xiàn)才是完美的。在采用傳統(tǒng)方法時，封裝版圖設計師必須用手工方式確認封裝的可布線性。這樣做將延長項目時間，并增加用于評估的封裝數(shù)量。

集成化的芯片-封裝協(xié)同設計環(huán)境應包含自動化的封裝可行性布線器，用于對許多封裝進行快速和精確的評估。這種封裝可行性分析是減少設計小組與封裝供應商之間工程反復的關鍵。

由于大多數(shù)封裝修改和確認可以在同一個封裝-芯片協(xié)同設計環(huán)境中完成，因此詳細的封裝版圖只是在最終的版圖實現(xiàn)和驗證時才需要。

如今大多數(shù)倒裝芯片設計依賴于以前人們熟知的良好凸點圖案。這種“一成不變”的解決方案可能導致嚴重的過度設計，并且增加不必要的封裝成本。

集成式的倒裝芯片封裝協(xié)同設計解決方案，提供從自動到完全定制的一整套創(chuàng)建功能。它能自動綜合在所選封裝中可布線的凸點覆蓋宏(bump-cover macro)，并滿足SPG(信號到電源和地)約束條件,還能從文件格式導入定制的凸點覆蓋宏。

此外，穩(wěn)固可靠的版圖編輯器能讓用戶在GUI中直觀地創(chuàng)建和編輯凸點覆蓋宏。在具有凸點覆蓋宏庫的情況下，系統(tǒng)可以為設計選擇最佳的宏，從而實現(xiàn)更小的裸片面積、更少的封裝布線層以及更好的電源與地分布。

這種系統(tǒng)中使用的綜合方法可以確定最優(yōu)的凸點版圖，形成最高性價比的解決方案，并滿足最嚴格的約束條件。

集成式芯片-封裝協(xié)同設計規(guī)劃環(huán)境的一個最重要優(yōu)點是，它能同時從封裝和芯片的角度考慮約束條件。當約束中存在沖突時，工具需要作出智能仲裁。