測(cè)試設(shè)計(jì)的新語(yǔ)言CTL(04-100)
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可用CTL來(lái)執(zhí)行分級(jí)DFT并做為設(shè)計(jì)環(huán)境和ATE環(huán)境之間一個(gè)信息豐富的測(cè)試接口。對(duì)于測(cè)試圖形再用所生成的CTL結(jié)構(gòu)支持在事件之后依賴(lài)協(xié)議管理的測(cè)試方法。例如，由一個(gè)接口提供的測(cè)試圖形可變化為用另一個(gè)替代接口，用稱(chēng)之為重新對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)的測(cè)試器圖形要領(lǐng)來(lái)改善ATE利用。
本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/81045.htm一些主要從事EDA、ATE、IP核和SoC開(kāi)發(fā)的公司已為半導(dǎo)體業(yè)行提供CTL基DFT方案。由Synopsys、Agilent和ARM公司提供的初始CTL基方案已發(fā)布。ST公司也從事檢驗(yàn)早期CTL基產(chǎn)品方案和積極地促進(jìn)行業(yè)論壇工作。初始產(chǎn)品和工具已適用于用戶(hù)，CTL被行業(yè)接受應(yīng)該很快。
CTL基EDA工具
Synopsys公司推出CTL基設(shè)計(jì)生成和ATPG支持工具。它的DFT CompilerTM SOCBIST 工具能產(chǎn)生核生成流(為核供應(yīng)商輸出CTL)和SoC集成流(對(duì)于下一級(jí)集成接受DFT/ATPG任務(wù)的核級(jí)CTL)見(jiàn)圖1。另外，通過(guò)CTL采用分級(jí)DFT消除了與很大設(shè)計(jì)有關(guān)的問(wèn)題，所給出的標(biāo)準(zhǔn)DFT工具具有處理設(shè)計(jì)的能力，這在以前是不可能提供的。
基于CTL尚未被通過(guò)，所以Synopsys設(shè)計(jì)工具流建立在形成標(biāo)準(zhǔn)的專(zhuān)用設(shè)計(jì)。為了確保用戶(hù)平滑的DFT流，Synopsys公司與Agilent公司緊密合作開(kāi)發(fā)的測(cè)試程序生成器和相關(guān)工具，特別是Agilent SmarTest PGCTL瀏覽器。
評(píng)論