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          測試設(shè)計的新語言CTL(04-100)

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          作者: 時間:2008-04-01 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            基ATE

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/81045.htm

            Agilent 公司的設(shè)計與測試之間接口標(biāo)準(zhǔn)化為加速IC產(chǎn)品開發(fā)提供一種最好的機會。

            2001年,Agilent和Syopsys公司結(jié)成戰(zhàn)略聯(lián)盟,意圖在于加快EDA-aware ATE和ATE-aware EDA.的上市時間和降低測試成本。用和其他擴展版本為此提供實現(xiàn)機構(gòu)。

            Agilent 公司附加到SmartTest Program Generator 上的CTL Browser,使得單步測試程序生成流能直接接受核或級CTL碼并直接輸出可下載的Agilent 93000 SOC Series 二進(jìn)制文件(見圖2)。

            CTL給出SmartTest Program Generator具有分析來自測試聯(lián)系的設(shè)計能力。例如,測試工程技術(shù)人員現(xiàn)在具有了解如下的能力:用BIST或任選功能向量測試哪些核,哪些核共享一個專門的掃描鏈或哪些頂級I/O引腳連接到哪些內(nèi)部核I/O引腳。這種對CTL的支持,使測試工程技術(shù)人員有能力使基于已有但從前未知信息基礎(chǔ)上的測試程序最佳化。



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