用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

　　靠外部測(cè)試通道補(bǔ)充UUT板上測(cè)試資源，可以擴(kuò)展測(cè)試覆蓋范圍到外設(shè)連接的UUT接口電路。特別是當(dāng)用外部接入到網(wǎng)上測(cè)試點(diǎn)而通過(guò)邊界掃描不可接入時(shí)，可以改善診斷輸出。

　　盡管用邊界掃描I/O測(cè)試器硬件可以改善測(cè)試覆蓋范圍和診斷性能，但此方法會(huì)引起新的問(wèn)題。在開發(fā)邊界掃描測(cè)試僅僅考慮UUT的測(cè)試資源，那么所有測(cè)試覆蓋范圍統(tǒng)計(jì)都是僅基于網(wǎng)數(shù)和UUT上的測(cè)試點(diǎn)數(shù)。然而增加測(cè)試儀資源到邊界掃描裝置，其測(cè)試資源本身包含自動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)試覆蓋范圍分析器。

　　對(duì)于測(cè)試生成，邊界掃描I/O測(cè)試儀資源與UUT網(wǎng)表融合。而所產(chǎn)生的測(cè)試程序是基于該整合網(wǎng)表。這導(dǎo)致測(cè)試覆蓋分析期間所評(píng)估的網(wǎng)和引腳數(shù)的增加。測(cè)試覆蓋分析結(jié)果不再表示UUT，而是組合的UUT和測(cè)試儀I/O配置。

　　表1給出這種組合網(wǎng)數(shù)對(duì)邊界掃描互連測(cè)試實(shí)例測(cè)試覆蓋范圍統(tǒng)計(jì)的影響。當(dāng)希望分析邊界掃描對(duì)專門UUT和增加I/O資源的適應(yīng)性時(shí)，這種偏移的測(cè)試覆蓋統(tǒng)計(jì)使人費(fèi)解。

　　為了測(cè)試程序產(chǎn)生使邊界掃描I/O資源與UUT網(wǎng)表融合，所以，所開發(fā)的測(cè)試圖形只可以在這種測(cè)試儀配置上執(zhí)行。隨著邊界I/O資源數(shù)、命令或類型的變化，測(cè)試圖形必須盡快地做相應(yīng)修正。

　　增加邊界掃描I/O資源到測(cè)試裝置引起的另一個(gè)問(wèn)題是增加掃描鏈長(zhǎng)度。需要另外的TCK時(shí)鐘來(lái)移位通過(guò)邊界掃描I/O模塊的測(cè)試圖形，這會(huì)導(dǎo)致較長(zhǎng)的測(cè)試執(zhí)行時(shí)間，并降低有效的測(cè)試吞吐量。然而，這樣的I/O模塊可以連接到一個(gè)分離的邊界掃描鏈，這會(huì)降低或者消除對(duì)測(cè)試執(zhí)行時(shí)間的影響。