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          用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

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          作者: 時(shí)間:2008-04-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
            電壓電平可編程性和可考慮的驅(qū)動(dòng)器強(qiáng)度,結(jié)合過流保護(hù)或其他安全測量是所希望的。采用HYSCAN I/O資源測試程序,不需要考慮I/O的物理實(shí)現(xiàn)性。

            對于測試圖形,無論通過I/O模塊或內(nèi)電路測試器的測試通道提供I/O都沒有關(guān)系?;?a class="contentlabel" href="http://www.ex-cimer.com/news/listbylabel/label/UUT">UUT網(wǎng)表產(chǎn)生測試程序,而網(wǎng)描述對測試儀I/O資源是可接入的。測試儀配置文件和連線表提供測試儀I/O到網(wǎng)的實(shí)際分配信息。只有測試儀配置和連線表需要適配實(shí)際的測試裝置,而測試程序本身是不需要適配的。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/81439.htm

            圖4示出采用測試儀I/O資源的實(shí)例。此實(shí)例包含可獨(dú)立應(yīng)用系統(tǒng)、內(nèi)電路測試系統(tǒng)和功能測試系統(tǒng)的3種測試儀配置。

            只需要一套測試程序,可以在所有3個(gè)測試系統(tǒng)中執(zhí)行同樣的測試,因?yàn)闇y試程序中I/O圖形尋址是由自測試儀配置控制的。在該實(shí)例中,可獨(dú)立應(yīng)用的邊界掃描系統(tǒng)包括PXI邊界掃描控制器,帶192通道的PXI數(shù)字I/O模塊、PXI電源通道連接上的外設(shè)接口連接器。測試程序控制UUT的掃描鏈和I/O模塊的測試通道。



          關(guān)鍵詞: ATE 邊界掃描 UUT

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