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          用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

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          作者: 時(shí)間:2008-04-10 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏
            集成

            一個(gè)獨(dú)立應(yīng)用的系統(tǒng)可以用I/O資源來(lái)擴(kuò)展接口電路的測(cè)試覆蓋范圍。在一個(gè)內(nèi)電路測(cè)試儀上集成邊界掃描工具,利用夾具的針來(lái)連接網(wǎng)來(lái)改善測(cè)試性和診斷,這需要開(kāi)發(fā)另外的測(cè)試程序。希望在單獨(dú)應(yīng)用系統(tǒng)和集成方案中運(yùn)行同樣的測(cè)試程序來(lái)降低測(cè)試開(kāi)發(fā)時(shí)間和維護(hù)成本。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/81439.htm

            混合邊界掃描

            若測(cè)試程序獨(dú)立于測(cè)試系統(tǒng)硬件,特別是當(dāng)考慮采用I/O資源來(lái)擴(kuò)展邊界掃描測(cè)試覆蓋范圍時(shí),可以大大地改善邊界掃描測(cè)試程序和系統(tǒng)內(nèi)編程程序的便攜性?;诖嗽颍_(kāi)發(fā)了混合掃描(HYSCANTM)?;旌蠏呙柙试S在各種系統(tǒng)中執(zhí)行同樣的邊界掃描測(cè)試圖形,而不需要修改。
          混合邊界掃描的原理是移位向量和并行I/O向量的分離。測(cè)試程序包括邊界掃描鏈的測(cè)試圖形和測(cè)試儀的I/O資源。然而,I/O資源的測(cè)試圖形與實(shí)際的測(cè)試儀硬件無(wú)關(guān)。



          關(guān)鍵詞: ATE 邊界掃描 UUT

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