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          用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

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          作者: 時(shí)間:2008-04-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
            對(duì)于I/O模塊、并行I/O模塊、內(nèi)電路測(cè)試針或其他 I/O資源都采用相同的I/O測(cè)試圖形。當(dāng)測(cè)試程序用于不同的時(shí),借助測(cè)試儀配置和連線表尋址實(shí)際的測(cè)試儀I/O資源。

            圖3示出具有邊界描述控制器和附加測(cè)試儀I/O硬件的測(cè)試儀配置。控制器提供到的JTAG測(cè)試接入端口的存取和到測(cè)試儀I/O間傳輸是通過主總線接口而不是通過鏈。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/81439.htm

            到具有混合掃描資源的外設(shè)接口連接器的接入與采用邊界掃描I/O模塊(采用掃描鏈接入)所實(shí)現(xiàn)的測(cè)試覆蓋范圍具有同樣的改善。然而,由于產(chǎn)品的I/O圖形不能作為邊界掃描鏈的一部分,而是做為并行I/O圖形,所以,這些配置的測(cè)試程序可以端接。用其他 I/O資源,而測(cè)試程序不用作任何修改。由于I/O圖形與邊界掃描描述無關(guān),所以,測(cè)試覆蓋范圍統(tǒng)計(jì)不會(huì)改變。

            表2給出采用融合UUT的邊界掃描I/O模塊與用混合掃描概念實(shí)現(xiàn)時(shí),測(cè)試覆蓋范圍統(tǒng)計(jì)的差別??紤]UUT和測(cè)試儀資源分別保證精度和UUT定向測(cè)試覆蓋范圍統(tǒng)計(jì)。

            基于混合測(cè)試圖形的概念是把經(jīng)過UUT邊界掃描鏈的串行接入和經(jīng)過測(cè)試儀I/O資源并行接入結(jié)合起來。測(cè)試儀I/O資源應(yīng)個(gè)別地可編程做為輸入,輸出或三態(tài)。



          關(guān)鍵詞: ATE 邊界掃描 UUT

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