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          基于FPGA的PCB測試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2008-05-28 來源:與非網(wǎng) 收藏

            引言

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/83209.htm

             光板基本的測試原理是歐姆定律,其測試方法是將待測試點(diǎn)間加一定的測試電壓,用譯碼電路選中 板上待測試的兩點(diǎn),獲得兩點(diǎn)間電阻值對應(yīng)的電壓信號,通過電壓比較電路,測試出兩點(diǎn)間的電阻或通斷情況。 重復(fù)以上步驟多次,即可實(shí)現(xiàn)對整個(gè)電路板的測試。

            由于被測試的點(diǎn)數(shù)比較多, 一般都在2048點(diǎn)以上,測試控制電路比較復(fù)雜,測試點(diǎn)的查找方法以及切換方法直接影響的測試速度,本文研究了基于的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

            硬件控制系統(tǒng)

            測試過程是在上位計(jì)算機(jī)的控制下,控制測試電路分別打開不同的測試開關(guān)。測試機(jī)系統(tǒng)由以下幾部分構(gòu)成: 上位計(jì)算機(jī)PC104 、測試控制邏輯(由 實(shí)現(xiàn)) 、高壓測試電路。 其中上位機(jī)主要完成人機(jī)交互、測試算法、測試數(shù)據(jù)處理以及控制輸出等功能。 控制高壓測試電路完成對 的測試過程。

            本系統(tǒng)以一臺(tái)PC104 為上位計(jì)算機(jī),以FPGA為核心,通過PC104 總線實(shí)現(xiàn)上位機(jī)對測試的控制。

            測試系統(tǒng)總體框圖如圖1所示。

                 

            FPGA與PC104的接口電路

            PC104總線是一種專為嵌入式控制定義的工業(yè)控制總線,其信號定義與ISA 總線基本相同。 PC104總線共有4 類總線周期,即8 位的總線周期、16 位的總線周期、DMA 總線周期和刷新總線周期。 16 位的I/O總線周期為3 個(gè)時(shí)鐘周期,8 位的I/O總線周期為6 個(gè)時(shí)鐘周期。 為了提高通信的速度,ISA總線采用16 位通信方式,即16 位I/O方式。 為了充分利用PC104的資源,應(yīng)用PC104的系統(tǒng)總線擴(kuò)展后對FPGA 進(jìn)行在線配置。正常工作時(shí)通過PC104總線與FPGA進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。

            FPGA與串行A/D及D/A器件的接口

            根據(jù)測試機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求,需要對測試電壓及兩通道參考電壓進(jìn)行自檢,即A/D轉(zhuǎn)換通道至少有3 路。 兩路比較電路的參考電壓由D/A輸出,則系統(tǒng)的D/A通道要求有兩通道。 為了減少A/D及D/A的控制信號線數(shù),選用串行A/D及D/A器件。 綜合性能、價(jià)格等因素, 選用的A/D器件為TLC2543,D/A器件為TLV5618。

            TLV5618是TI公司帶緩沖基準(zhǔn)輸入(高阻抗)的雙路12 位電壓輸出DAC,通過CMOS 兼容的3線串行總線實(shí)現(xiàn)數(shù)字控制。器件接收16 位命令字,產(chǎn)生兩路D/A模擬輸出。TLV5618只有單一I/O周期,由外部時(shí)鐘SCL K決定,延續(xù)16 個(gè)時(shí)鐘周期,將命令字寫入片內(nèi)寄存器,完成后即進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換。TLV5618讀入命令字是從CS的下降沿開始有效,從下一SCLK的下降沿開始讀入數(shù)據(jù),讀入16位數(shù)據(jù)后即進(jìn)入轉(zhuǎn)換周期,直到下次出現(xiàn)CS的下降沿。 其操作時(shí)序圖如圖2 所示。

                 

            TLC2543是TI公司的帶串行控制和11個(gè)輸入端的12 位、開關(guān)電容逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器。 片內(nèi)轉(zhuǎn)換器有高速、高精度和低噪音的特點(diǎn)。 TLC2543工作過程分為兩個(gè)周期:I/O周期和轉(zhuǎn)換周期。I/O周期由外部時(shí)鐘SCLK決定,延續(xù)8、12或16個(gè)時(shí)鐘周期,同時(shí)進(jìn)行兩種操作: 在SCLK上升沿以MSB方式輸入8位數(shù)據(jù)到片內(nèi)寄存器;在SCLK下降沿以MSB 方式輸出8、12、16位轉(zhuǎn)換結(jié)果。轉(zhuǎn)換周期在I/O周期的最后一個(gè)SCLK下降沿開始,直到EOC信號變高,指示轉(zhuǎn)換完成。 為了與TLV5618的I/O周期一致,采用了MSB方式,使用CS的16 時(shí)鐘傳送的時(shí)序。其操作時(shí)序如圖3 所示。

                  

            由于這兩種器件都是SPI接口,可將這兩器件連接至同一SPI 總線,通過不同的片選信號對不同的器件操作。 由于SPI接口協(xié)議復(fù)雜,而且從圖3 可以看出,這兩種器件的時(shí)序并沒有用到全部的SPI接口時(shí)序。為了實(shí)現(xiàn)符合以上邏輯的時(shí)序,減少標(biāo)準(zhǔn)SPI 接口IP 核對FPGA資源的浪費(fèi), 設(shè)計(jì)采用Verilog硬件描述語言用同步狀態(tài)機(jī)(FSM)的設(shè)計(jì)方法實(shí)現(xiàn),編寫ADC及DAC控制時(shí)序。程序?qū)嶋H上是一個(gè)嵌套的狀態(tài)機(jī),由主狀態(tài)機(jī)和從狀態(tài)機(jī)通過由控制線啟動(dòng)的總線在不同的輸入信號情況下構(gòu)成不同功能的有限狀態(tài)機(jī)。 則由圖3 可知,D/A操作有4 個(gè)狀態(tài),A/D操作有7個(gè)狀態(tài)。 兩種狀態(tài)中有幾個(gè)狀態(tài)是相同的,故可用一個(gè)有限狀態(tài)機(jī)完成對串行A/D及D/A的操作。 程序?qū)嶋H上是一個(gè)嵌套的狀態(tài)機(jī),由主狀態(tài)機(jī)和從狀態(tài)機(jī)通過由控制總線啟動(dòng)的總線在不同的輸入信號情況下構(gòu)成不同功能的較復(fù)雜的有限狀態(tài)機(jī)。 A/D及D/A操作共用唯一的驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘(SCLK) 及數(shù)據(jù)總線(SI、SO)。由于操作的寫周期有16個(gè)時(shí)鐘周期,讀周期有12個(gè)時(shí)鐘周期,模塊是在三個(gè)嵌套的有限狀態(tài)機(jī)中完成的,其主狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)如圖4所示。

                 

            系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,將AD、DA操作封裝成一單獨(dú)模塊,由上層控制模塊輸出命令字及控制信號啟動(dòng)本模塊的相應(yīng)操作,操作完成后(進(jìn)入idle狀態(tài)) ,本模塊發(fā)出相應(yīng)狀態(tài)信號至上層模塊。


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