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摘要:提出采用同一臺指針式萬用電表某一電壓擋,通過串聯(lián)電阻方法,準(zhǔn)確測算負(fù)載端電壓和電源的電動 勢及其內(nèi)阻。介紹用某一電流擋通過并聯(lián)電阻方法準(zhǔn)確測算負(fù)載電流和電源電動勢及其內(nèi)阻。統(tǒng)稱為半值法。 從而排除了由于電源內(nèi)阻......
2022 年 9 月 21 日,北京——是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布,是德科技幫助及云科技完成緊湊型電池測試系統(tǒng)的搭建以及調(diào)試工作。是德科技提供先進(jìn)的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證解決方案,旨在加速創(chuàng)新,創(chuàng)造一個安全互聯(lián)的世界......
SiC MOSFET具有出色的開關(guān)特性,但由于其開關(guān)過程中電壓和電流變化非常大,因此如Tech Web基礎(chǔ)知識 SiC功率元器件“SiC MOSFET:橋式結(jié)構(gòu)中柵極-源極間電壓的動作-前言”中介紹的需要準(zhǔn)確測量柵極和源......
半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展迅猛而廣泛,目前已經(jīng)滲透并影響到我們生活的方方面面。半導(dǎo)體器件已經(jīng)應(yīng)用在我們的汽車、便攜式電子產(chǎn)品、辦公設(shè)備、醫(yī)療儀器、工業(yè)機(jī)械、通信基礎(chǔ)設(shè)施和無數(shù)的其他方面,幾乎無處不在。盡管最近發(fā)生的影響廣泛的全球事......
碳基半導(dǎo)體材料,是在碳基納米材料的基礎(chǔ)上發(fā)展出來的。所謂的納米材料,是指三維空間尺度至少有一維處于納米量級(1-100nm)的材料,包括:零維材料 – 量子點(diǎn)、納米粉末、納米顆粒;一維材料 – 納米線或納米管;二維材料 ......
到目前為止,我們已經(jīng)介紹過使用熱阻和熱特性參數(shù)來估算TJ的方法。本文將介紹在表面貼裝應(yīng)用中,如何估算散熱面積以確保符合TJ max,以及與熱相關(guān)的元器件布局注意事項(xiàng)。本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?如果將會發(fā)熱的IC安裝得過于密集,就會......
· 無縫協(xié)作促進(jìn)了持續(xù)的產(chǎn)品創(chuàng)新和質(zhì)量改進(jìn),進(jìn)而提升了行業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn)· 在供應(yīng)鏈?zhǔn)芟迼l件下,共同的質(zhì)量承諾推動兩家公司快速交付行業(yè)領(lǐng)先的動態(tài)基礎(chǔ)測試解決方案· &......
進(jìn)行雙脈沖測試的主要目的是獲得功率半導(dǎo)體的開關(guān)特性,可以說它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應(yīng)用的整個生命周期。基于雙脈沖測試獲得的器件開關(guān)波形可以做很多事情,包括:通過對開關(guān)過程的分析驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)方案并提出改進(jìn)方向、提取開關(guān)......
摘要:針對單片機(jī)開發(fā)學(xué)習(xí)過程中實(shí)物硬件短缺或易損,以及仿真軟件庫中缺少元器件模型,實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象不明 顯等問題,提出了基于Proteus的半物理電路仿真的設(shè)想和方法,即由PC機(jī)上的Proteus仿真軟件作為上位機(jī),實(shí) 物硬......
溫度是過程控制系統(tǒng)中的一個關(guān)鍵測量指標(biāo),它可以是直接測量,例如測量化學(xué)反應(yīng)的溫度;它也可以是補(bǔ)償測量,例如壓力傳感器的溫度補(bǔ)償。對于任何系統(tǒng)設(shè)計(jì),準(zhǔn)確、可靠、穩(wěn)健的溫度測量都很重要。對于某些終端設(shè)計(jì),檢測系統(tǒng)故障至關(guān)重要......
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