- 一、芯片描述
TDA7294是歐洲著名的SGS-THOMSON意法微電子公司于90年代向中國大陸推出的一款頗有新意的DMOS大功率的集成功放電路。它一掃以往線性集成功放和厚膜集成的生、冷、硬的音色，廣泛應(yīng)用于HI-FI領(lǐng)域：如
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總結(jié) 原理 測試 TDA7294 功放
- 目前制造的大功率射頻晶體管比以往任何時候都更堅實耐用。針對特高耐用性設(shè)計的器件可以承受嚴(yán)重的失配，即使在滿輸出電平時也是如此?，F(xiàn)在多家制造商可提供大功率硅橫向擴散金屬氧化物半導(dǎo)體(LDMOS)晶體管，這種產(chǎn)品
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LDMOS 大功率 測試 晶體管
- 摘要：講述EMC的定義，EMC在單片機應(yīng)用系統(tǒng)的測試方法，EMC新器件新材料的應(yīng)用以及故障排除技術(shù)。只要從事電子產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)或者供應(yīng)，就必須進行EMC電磁兼容的檢測工作。引言所謂EMC就是：設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境
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排除 故障 測試 EMC 單片機
- 檢驗設(shè)備軟件在各種條件下可實現(xiàn)持續(xù)運行狀態(tài)，以及評估設(shè)備從故障中恢復(fù)正常服務(wù)所需要的時間和其他影響，就是軟件可靠性測試主要涉及的課題。設(shè)備為達到連續(xù)可運行目標(biāo)，除了在硬件設(shè)計中考慮器件可連續(xù)無故障運行
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設(shè)備 軟件可靠性 測試
- 光纖宏彎損耗測試，在國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T9771.3-2008中描述為：光纖以30mm半徑松繞100圈，在1625nm測得的宏彎損耗應(yīng)不超過0.1dB。而注2中描述：為了保證彎曲損耗易于測量和測量準(zhǔn)確度，可用1圈或幾圈小半徑環(huán)光纖代替100圈
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G652D 如何提高 光纖 測試
- 1.無線技術(shù)2. 以軟件為中心的無線測試平臺3.更多相關(guān)資源從事無線通信領(lǐng)域設(shè)計和測試的工程師如今正面臨著前所未有的挑戰(zhàn)，眾多的無線通信標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)給人一種眼花繚亂的感覺，并且伴隨著科技的飛速進步，市場需求的不斷
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測試 平臺 同一 構(gòu)建 無線通信 標(biāo)準(zhǔn) 不同
- 頻譜趨勢無線通信的市場需求持續(xù)加速，同時伴隨著向數(shù)據(jù)應(yīng)用的轉(zhuǎn)移，比如短信息、網(wǎng)絡(luò)瀏覽和GPS等應(yīng)用。這些應(yīng)用需要更高的數(shù)據(jù)傳輸率來實現(xiàn)更佳的用戶體驗，這需要在有限的頻譜上采用新的傳輸方式。一些相當(dāng)有效率的
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發(fā)展方向 技術(shù) 測試 RF
- 隨著閱讀器與標(biāo)簽價格的降低和全球市場的擴大，射頻標(biāo)識RFID（以下簡稱RFID）的應(yīng)用與日俱增。標(biāo)簽既可由閱讀器供電（無源標(biāo)簽），也可以由標(biāo)簽的板上電源供電（半有源標(biāo)簽和有源標(biāo)簽）。由于亞微型無源CMOS標(biāo)簽的成
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測試 RFID 標(biāo)識 射頻
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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NI RF平臺 測試
- Multitest日前宣布推出適于MT9928 xm重力式測試分選機的新型振動盤上料模塊。該模塊針對MLF2和SOT等最小元件的溫度測試提供了一流解決方案。雖然Turret是傳統(tǒng)的分選解決方案，但在高溫或低溫條件下需要精確溫度測試時，該方案并不適用。
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Multitest 測試 MT9928
- 1 引言2009年，第一個商用LTE網(wǎng)絡(luò)在瑞典投入運營。緊接著，全球18個國家共26個網(wǎng)絡(luò)提供商用LTE服務(wù)（含美國、亞洲和歐洲）。這種新LTE技術(shù)的數(shù)據(jù)傳輸率可高達100Mbit/s。盡管其實際可達數(shù)據(jù)傳輸率遠低于理想條件下的
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傳輸 功能和 測試 策略 語音 實現(xiàn) LTE 數(shù)據(jù) 交換 采用
- 新聞要點
The NI PXIe-1066DC機箱基于PXI出眾的系統(tǒng)生命周期和靈活性，是已部署、嚴(yán)格任務(wù)級應(yīng)用的理想選擇。
在全新的機箱中，NI為PXI平臺系列增加了冗余、熱插拔和前端接入功能，顯著增加了系統(tǒng)的正常運行時間。
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NI 測試 PXI PXIe-1066DC
- 概覽如今的無線通信領(lǐng)域可謂是“百花齊放，百家爭鳴”，層出不窮的無線通信標(biāo)準(zhǔn)令人眼花繚亂；同時，現(xiàn)代的電子產(chǎn)品往往又集成了多種不同的無線標(biāo)準(zhǔn)。這些都給射頻設(shè)計和測試的工程師帶來了前所未有的挑戰(zhàn)
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軟件無線電 架構(gòu) 測試 無線技術(shù)
- 概述NI 提供了高速、靈活、精確的RF硬件，并搭配功能強大的NI LabVIEW軟件，以適應(yīng)無線通信領(lǐng)域日新月異的需求，并且貫穿了從設(shè)計、驗證到生產(chǎn)的所有工程設(shè)計階段。為了能滿足不斷發(fā)展的通訊標(biāo)準(zhǔn)，LabVIEW圖形化設(shè)計
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NI RF平臺 測試
- 近日，第八屆中國國際國防電子展覽會在京順利舉行，致力于為各行業(yè)用戶提供專業(yè)測試測量解決方案和成套檢測設(shè)備的北京泛華恒興科技有限公司攜眾多應(yīng)用于國防軍工領(lǐng)域的新品參加了此次盛會。
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泛華 測試
測試介紹
中文名稱：
測試
英文名稱：
test
定義1：
對在受控條件下運動的裝備，進行其功能和性能的檢測。
應(yīng)用學(xué)科：
航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進行的直接實際實驗。
應(yīng)用學(xué)科：
通信科技(一級學(xué)科);運行、維護與管理(二級學(xué)科)
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