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測(cè)試
測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
I2C總線(xiàn)測(cè)試和分析
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PCI-Express2.0協(xié)議層的數(shù)字驗(yàn)證及調(diào)試解決方案
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加快和簡(jiǎn)化串行數(shù)據(jù)測(cè)試
- 串行數(shù)據(jù)流的速度不斷提高,而誤碼規(guī)范也越來(lái)越嚴(yán)格,這使抖動(dòng)容差性和誤碼率(BER)測(cè)試變得越來(lái)越重要。幾位工程...
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試
測(cè)試介紹
中文名稱(chēng):
測(cè)試
英文名稱(chēng):
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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