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ni connect 文章 進(jìn)入ni connect技術(shù)社區(qū)
在射頻產(chǎn)品設(shè)計(jì)中將仿真與測(cè)量相結(jié)合
- 縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期一直以來(lái)都是研發(fā)機(jī)構(gòu)的主要目標(biāo)。減少開(kāi)發(fā)時(shí)間的方法之一是將設(shè)計(jì)和測(cè)試工作同步進(jìn)行——即通常遵循V型圖產(chǎn)品開(kāi)發(fā)模式。這種方法已經(jīng)應(yīng)用于汽車(chē)業(yè)和航空業(yè)。
- 關(guān)鍵字： NI EDA 設(shè)計(jì)和測(cè)試
CompactRIO測(cè)試技術(shù)在油泵功能測(cè)試線中的應(yīng)用
- XLM2線功能測(cè)試臺(tái)主要承擔(dān)對(duì)油泵支架總成各項(xiàng)性能的檢測(cè)。主要針對(duì)通用公司以及福特公司的12種配套車(chē)型的油泵支架系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。其主要測(cè)試參數(shù)包括：油體浮子液位阻值(TSG電阻)，油泵啟動(dòng)電流，CO接地電阻，DRV接地電阻，油泵轉(zhuǎn)動(dòng)極性以及產(chǎn)品條碼掃描等一系列關(guān)鍵參數(shù)。
- 關(guān)鍵字： NI 測(cè)試 COMPACTRIO
基于CompactRIO的發(fā)動(dòng)機(jī)連桿疲勞試驗(yàn)系統(tǒng)研究
- 強(qiáng)度、剛度和疲勞壽命是衡量工程機(jī)械機(jī)構(gòu)和零件可靠性的主要參數(shù)，疲勞破壞是機(jī)械機(jī)構(gòu)和零件失效的主要原因之一(據(jù)統(tǒng)計(jì)，連桿60%到90%的破壞都是疲勞破壞)，而引起疲勞破壞的主要原因是動(dòng)態(tài)交變載荷。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW CompactRIO
獨(dú)立NI CompactDAQ系統(tǒng)用于高性能嵌入式測(cè)量與數(shù)據(jù)記錄應(yīng)用
- NI 發(fā)布了獨(dú)立數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，能夠與超過(guò)50種傳感器I/O模塊兼容，實(shí)現(xiàn)靈活的混合信號(hào)測(cè)量與數(shù)據(jù)記錄，進(jìn)一步拓展了NI CompactDAQ平臺(tái)。 此獨(dú)立NI CompactDAQ系統(tǒng)包含內(nèi)置雙核Intel處理器和板載存儲(chǔ)，可在單一系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)便攜式高性能處理任務(wù)。 使用NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件，工程師可以自定義一個(gè)數(shù)據(jù)記錄或嵌入式監(jiān)控系統(tǒng)，在同一個(gè)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集、分析和顯示。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW
仿真與測(cè)量相結(jié)合運(yùn)用在射頻產(chǎn)品設(shè)計(jì)中
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字： 射頻 NI 測(cè)試測(cè)量 EDA
使用LabVIEW和PXI進(jìn)行東海大橋結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)
- 東海大橋作為中國(guó)首座跨海大橋，耗資12億美元，于2005年完成通車(chē)。六車(chē)道的大橋?qū)⑸虾Ｅc洋山島連在了一起，大橋全長(zhǎng)32.5千米，并設(shè)計(jì)成S形以避開(kāi)臺(tái)風(fēng)和海浪區(qū)，以保證車(chē)輛安全行駛。
- 關(guān)鍵字： NI 數(shù)據(jù)采集 傳感器
使用NI LabVIEW對(duì)手機(jī)LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動(dòng)化測(cè)試
- 我們使用NI PXI平臺(tái)開(kāi)發(fā)了一套高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng)。NI LabVIEW程序可以完成多種測(cè)試功能——視覺(jué)檢測(cè)，聲音測(cè)試，電流電壓測(cè)量、揚(yáng)聲器激振等。系統(tǒng)的主要測(cè)試項(xiàng)目是使用數(shù)字I/O模塊(NI PXI-6508)對(duì)LCD屏幕生成多種圖形信號(hào)然后對(duì)它進(jìn)行視覺(jué)檢測(cè)。
- 關(guān)鍵字： NI LCD 測(cè)試系統(tǒng)
行動(dòng)決定樂(lè)趣 “Do Engineering”做出領(lǐng)悟
- 近日，第八屆NI高校教師交流會(huì)（Professor Day 2012）在哈爾濱舉辦，來(lái)自全國(guó)22個(gè)省/直轄市、110所高校的244余名教師受邀參加。NI的高校教師交流會(huì)一直致力于用NI先進(jìn)的科技與全新的理念，為高校教師提供分享工程教育的創(chuàng)新理念與前沿技術(shù)的交流平臺(tái)。
- 關(guān)鍵字： 高校，教師，NI，電子教學(xué)，卓越工程師
NI LabVIEW開(kāi)發(fā)世界最大望遠(yuǎn)鏡的實(shí)時(shí)控制系統(tǒng)
- 引言歐洲南方天文臺(tái)(ESO)是由13 個(gè)歐洲國(guó)家支持的天文研究機(jī)構(gòu)。我們已經(jīng)開(kāi)發(fā)并部署了一些世界上最先進(jìn)的望遠(yuǎn)鏡。我們目前在智利的安第斯山地區(qū)分布著三個(gè)站點(diǎn)，即La Silla、Paranal 以及Chajnantor 天文臺(tái)。我們總是
- 關(guān)鍵字： LabVIEW NI 望遠(yuǎn)鏡 實(shí)時(shí)控制系統(tǒng)
基于LabVIEW和NI USRP進(jìn)行射頻/通信物理層研究
- 作為德累斯頓工業(yè)大學(xué)沃達(dá)豐移動(dòng)通信系統(tǒng)集團(tuán)的研發(fā)人員，我主要負(fù)責(zé)設(shè)計(jì)方法來(lái)提高低價(jià)位移動(dòng)前端的模擬射頻性能。 我的研究主題是通過(guò)DSP技術(shù)來(lái)抑制硬件損傷，這一概念也就是有擾射頻。 我可以使用昂貴的實(shí)驗(yàn)室硬件來(lái)消除非線性、同相/正交失衡、相位噪聲和載波頻率偏移等負(fù)面損壞影響，但是成本較低的DSP方法卻可以明顯提高常見(jiàn)通信系統(tǒng) 的質(zhì)量。
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW
借助集中式數(shù)據(jù)采集,開(kāi)發(fā)在線風(fēng)電場(chǎng)狀態(tài)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
- CARTIF的工業(yè)診斷與預(yù)測(cè)維護(hù)工程師，工作內(nèi)容是開(kāi)發(fā)診斷式工業(yè)環(huán)境系統(tǒng)。 而這些系統(tǒng)必須能取得如振動(dòng)、電子與高低頻率的各種數(shù)位信號(hào)，并達(dá)到高存數(shù)容量。許多情況下，我們必須在整個(gè)電力生產(chǎn)過(guò)程不斷操作這些系統(tǒng)。
- 關(guān)鍵字： NI 數(shù)據(jù)采集
多物理量環(huán)境監(jiān)測(cè)起步包
- 環(huán)境監(jiān)測(cè)起步包基于NI的嵌入式硬件平臺(tái)CompactRIO和圖形化設(shè)計(jì)平臺(tái)LabVIWE開(kāi)發(fā)而成
- 關(guān)鍵字： NI CompactRIO
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