門電路延遲時間的Multisim仿真測試方案

　　1. 3 測試方案3

　　在一個門的輸入端加入矩形脈沖信號，測試一個門的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間。外加信號的周期T = 2N tpd ，以保證門的工作頻率和前述其他測試方法相同。

　　以反相器74LS04N 作為仿真實驗器件，構(gòu)建仿真實驗電路如圖5 所示，信號發(fā)生器輸出矩形脈沖的頻率選為10 MHz。

圖5 測試方案3 的仿真實驗電路

　　仿真前，可對74LS04N 的上升延遲時間及下降延遲時間進行設(shè)置，如設(shè)置rise delay= 10 ns，fall delay=10 ns。

　　仿真時示波器顯示的輸入信號、輸出信號波形及延遲時間測試如圖6 所示。

圖6 圖5 電路輸入、輸出波形及延遲時間測試

　　測試的傳輸延遲時間tpd = 11. 0 ns，測量結(jié)果與設(shè)定值基本一致。

　　2 誤差分析

　　上述三種測試方案的測試結(jié)果表明存在誤差，原因是組成測試電路時門的輸入端、輸出端接入測試儀器,使門的輸入端、輸出端存在負載效應(yīng)，從而使延遲時間略大于設(shè)定值。

　　在測試方案1 中，示波器接至一個門的輸出端，僅對門的輸出端產(chǎn)生影響；測試方案2、3 中，示波器接至一個門的輸入端、輸出端，對門的輸入端、輸出端均產(chǎn)生影響。所以測試方案1 測試的延遲時間小于測試方案2、3；測試方案2、3 測試的延遲時間基本相同。

　　3 結(jié) 語

　　Mult isim 軟件仿真具有豐富的仿真分析能力，但也存在一些問題及不足，使用時必須認真分析思考軟件的設(shè)置條件，改進仿真實驗方法，才能達到預(yù)期的實驗效果。

　　所述方法具有實際應(yīng)用意義，這些方法亦可用于其他功能邏輯門傳輸時間的仿真測試。