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          優(yōu)化高電壓應(yīng)用的電源開關(guān)

          —— Optimising the power switch in high voltage applications
          作者:Zetex半導(dǎo)體分立式產(chǎn)品開發(fā)經(jīng)理 Peter Blair 時間:2007-04-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            如今,高電壓小負(fù)荷被應(yīng)用到多種領(lǐng)域。無論是啟動器、電動機、螺線管或變壓器、轉(zhuǎn)換電路,都在無休止地追求更好的能源效能、更佳的可靠性和更少的成本及封裝體積。對于此類負(fù)荷范圍的開關(guān),這些技術(shù)上的要求似乎不外是“增強開關(guān)的功率密度!”,但在實際應(yīng)用中如何才能夠達到最佳效果呢?

            在某種程度上,上述技術(shù)要求是自相矛盾的。例如,采用增加芯片體積的方法來增強效能,確實可以通過降低工作溫度來減少傳導(dǎo)損失及改進可靠性,但是這樣做的代價卻是成本及組件體積的增加。

            為了達到增強開關(guān)功率密度的技術(shù)要求,我們必須考慮供電裝置制造的方方面面,包括芯片和組件的設(shè)計與構(gòu)造。當(dāng)考慮高達500V的擊穿電壓應(yīng)用時,以下三種潛在技術(shù)可供我們選擇:BJT、MOSFET或IGBT。

          IGBT

            與常規(guī)技術(shù)相反,IGBT將雙極性和MOSFET物理特性相結(jié)合,創(chuàng)造用于較大型組件的高效能高功率裝置。問題是,額外發(fā)射極結(jié)增加至導(dǎo)通電壓的正向電壓,即使是在DPAK這樣的組件中,導(dǎo)通電壓仍然可超出1.8V,并且可能達到2.8V。熱電阻值可降至低于1



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